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講演抄録/キーワード
講演名 2005-07-22 13:00
Adjoint Variable法を用いたFDTD感度解析
古崎雅人田口健治柏 達也北見工大)・野村壮史佐藤和夫豊田中研
抄録 (和) FDTD法を用いた最適設計法においては差分感度解析法による感度解析が良く用いられている.しかしながら,設計パラメータの数が多い場合,差分感度解析法は計算量が膨大となり効率が良くない.これらの問題を克服するためにadjoint variable method(AVM)が考案されている.従来,FDTD法におけるAVMでは導体位置に対する感度解析については報告されているが,誘電率に対する感度については報告されていない.本報告ではパラメータを誘電率及び導体位置とした場合の感度解析について報告する.更に,フォトニック結晶等の周期構造体の解析を目標として,AVMを広帯域パルス解析が可能な周期境界FDTD法に適用しその有効性を示す. 
(英) Recently, the optimal design has become essential in microwave and optical circuit design. The sensitivity analysis is indispensable to optimal designs. In this study, the FDTD sensitivity analysis using the adjoint variable method is carried out in the three dimensional space. The transmission characteristics of waveguide structures and periodic structures are analyzed. The sensitivity to variation in position of metallic wall and the permittivity of dielectric material is calculated. As a result, the effectiveness of the adjoint variable method to obtain the sensitivity is shown compared with the traditional finite difference approach.
キーワード (和) FDTD法 / 最適設計 / Adjoint variable法 / 感度解析 / / / /  
(英) FDTD method / Adjoint variable method / Sensitivity analysis / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 188, AP2005-62, pp. 143-148, 2005年7月.
資料番号 AP2005-62 
発行日 2005-07-13 (AP) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 AP SAT  
開催期間 2005-07-20 - 2005-07-22 
開催地(和) ホテル大雪(北海道 層雲峡) 
開催地(英) Hotel Taisetsu 
テーマ(和) 衛星通信・放送技術及び一般 
テーマ(英) Satellite Communications and Satellite Broadcasting Technology 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 AP 
会議コード 2005-07-AP-SAT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) Adjoint Variable法を用いたFDTD感度解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) FDTD Sensitivity Analysis Using the Adjoint Variable Method 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) FDTD法 / FDTD method  
キーワード(2)(和/英) 最適設計 / Adjoint variable method  
キーワード(3)(和/英) Adjoint variable法 / Sensitivity analysis  
キーワード(4)(和/英) 感度解析 /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 古崎 雅人 / Masato Furusaki / フルサキ マサト
第1著者 所属(和/英) 北見工業大学 (略称: 北見工大)
Kitami Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 田口 健治 / Kenji Taguchi / タグチ ケンジ
第2著者 所属(和/英) 北見工業大学 (略称: 北見工大)
Kitami Institute of Technology (略称: KIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 柏 達也 / Tatsuya Kashiwa / カシワ タツヤ
第3著者 所属(和/英) 北見工業大学 (略称: 北見工大)
Kitami Institute of Technology (略称: KIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 野村 壮史 / Tsuyoshi Nomura / ノムラ ツヨシ
第4著者 所属(和/英) 豊田中央研究所 (略称: 豊田中研)
Toyota Central R&D Labs. (略称: Toyota Central R&D Labs.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 和夫 / Kazuo Sato / サトウ カズオ
第5著者 所属(和/英) 豊田中央研究所 (略称: 豊田中研)
Toyota Central R&D Labs. (略称: Toyota Central R&D Labs.)
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講演者
発表日時 2005-07-22 13:00:00 
発表時間 25 
申込先研究会 AP 
資料番号 IEICE-AP2005-62 
巻番号(vol) IEICE-105 
号番号(no) no.188 
ページ範囲 pp.143-148 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-AP-2005-07-13 


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