講演抄録/キーワード |
講演名 |
2005-07-15 11:20
外部変調器を用いた光ヘテロダイン電磁界プロービング ○笹川清隆・土屋昌弘・井筒雅之(NICT) エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2005-55 OPE2005-39 |
抄録 |
(和) |
電気光学(EO) 効果を用いた電磁界計測法に光ヘテロダイン方式を適用し,マイクロ波帯の電磁界計測を行った.本手法では,単一波長レーザーからの出力光を外部変調器によって強度変調し,EDFA によって増幅した後に電気光学結晶によって,測定対象の電界とミキシングを行う.外部変調による強度雑音の低い光源を利用することにより,差動検出法を用いることなく雑音を低減することに成功した. |
(英) |
We proposed an electro-optic (EO) probing techique based on optical heterodyne method and demonstrated measurement of a electromagnetic field at microwave frequency range. In this technique, the intensity of light from a single-mode laser was modulated by an external optical modulator. The modulated light was amplified by an erbium-doped fiber amplifier (EDFA) and mixed with electric filed of a dvice under test (DUT) in an electro-optic crystal. |
キーワード |
(和) |
電気光学プローブ / 光ヘテロダイン法 / 電気光学効果 / マイクロ波検出 / / / / |
(英) |
Electro-optic probing / Optical heterodyne method / Electro-optic effect / Microwave detection / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 183, OPE2005-39, pp. 31-36, 2005年7月. |
資料番号 |
OPE2005-39 |
発行日 |
2005-07-08 (MW, OPE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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