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講演抄録/キーワード
講演名 2005-06-28 11:15
位相限定相関法に基づく電子顕微鏡画像の倍率推定アルゴリズム
長嶋 聖青木孝文東北大)・常田るり子日立
抄録 (和) 本稿では,位相限定相関法に基づく電子顕微鏡画像の倍率推定アルゴリズムを提案する.提案手法は,基準画像に対する入力画像の倍率および平行移動量を高精度に推定することが可能である.また,基準画像と入力画像の間の共通領域のみを抽出することによって,倍率推定精度を向上させている.マンデルブロー図形を倍率の保証された画像として用いた実験から,画像サイズ401×ピクセルで約1000倍に拡大された画像の倍率を16段階(各段階の倍率は約1.54倍)で推定した場合,提案手法は0.2[%]程度の誤差で推定可能であることを示す.また,提案する倍率推定アルゴリズムを電子顕微鏡画像の倍率校正に適用した結果について示す. 
(英) This paper presents a scale estimation algorithm based on Phase-Only Correlation (POC) for electron microscope images. The proposed method can estimate the scale factor and translational displacements between a
reference image and an input image with high-accuracy. Significant improvement in scale estimation performance can be achieved by extracting a common region between the reference image and input image. Experimental evaluation using the Mandelbrot picture as a precisely scale-controlled image shows that the proposed method can estimate the scale factor in approximately 0.2[%]-scale accuracy, where the image size is 401x401[pixel], the scale factor is about 1000 and the scale is estimated with 16 stages (thus, the scale factor of each stage is about 1.54). This paper
also describes an application of the proposed algorithm to magnification calibration for electron microscope images.
キーワード (和) 位相限定相関法 / 倍率推定 / マンデルブロー図形 / 電子顕微鏡 / / / /  
(英) phase-only correlation / scale estimation / mandelbrot picture / electron microscope / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 150, SIP2005-42, pp. 19-24, 2005年6月.
資料番号 SIP2005-42 
発行日 2005-06-21 (CAS, VLD, SIP) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 CAS SIP VLD  
開催期間 2005-06-27 - 2005-06-28 
開催地(和) 東北大学 
開催地(英) Tohoku University 
テーマ(和) 信号処理、LSI、及び一般 
テーマ(英) Signal Processing, LSI, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SIP 
会議コード 2005-06-CAS-SIP-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 位相限定相関法に基づく電子顕微鏡画像の倍率推定アルゴリズム 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Scale Estimation Algorithm Based on Phase-Only Correlation for Electron Microscope Images 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 位相限定相関法 / phase-only correlation  
キーワード(2)(和/英) 倍率推定 / scale estimation  
キーワード(3)(和/英) マンデルブロー図形 / mandelbrot picture  
キーワード(4)(和/英) 電子顕微鏡 / electron microscope  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 長嶋 聖 / Sei Nagashima / ナガシマ セイ
第1著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 青木 孝文 / Takafumi Aoki / アオキ タカフミ
第2著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 常田 るり子 / Ruriko Tsuneta / ツネタ ルリコ
第3著者 所属(和/英) 株式会社 日立製作所 中央研究所 (略称: 日立)
Hitachi, Ltd., Central Reserch Laboratry (略称: Hitachi, Ltd., Central Reserch Laboratry)
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講演者
発表日時 2005-06-28 11:15:00 
発表時間 25 
申込先研究会 SIP 
資料番号 IEICE-CAS2005-18,IEICE-VLD2005-29,IEICE-SIP2005-42 
巻番号(vol) IEICE-105 
号番号(no) no.146(CAS), no.148(VLD), no.150(SIP) 
ページ範囲 pp.19-24 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-CAS-2005-06-21,IEICE-VLD-2005-06-21,IEICE-SIP-2005-06-21 


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