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講演抄録/キーワード
講演名 2005-05-27 11:25
衛星搭載用半導体メモリ装置に対するシングルイベント効果の実測
笹田武志市川 愉JAXA)・金井俊樹宇宙技術開発
抄録 (和) 宇宙航空研究開発機構(JAXA)では,衛星搭載用半導体メモリ装置内で使用する民生メモリ素子の特性評価および軌道上実証のため,2002年2月に民生部品・コンポーネント実証衛星(つばさ:MDS-1)を打ち上げた.MDS-1は静止トランスファー軌道のため,強い放射線帯を毎周回通過する.本実験にて,大量の64Mbit DRAMサンプルで発生するシングルイベント効果(SEE)およびトータルドーズ効果を長期間に渡り実測した.その結果,実環境下でのSEU発生率を算出でき,そのエラーに対する2種類の誤り検出・訂正機能を確認した.本稿ではMDS-1搭載の半導体メモリ装置(SSR)ミッションにて実測したSEEについて述べる. 
(英) To evaluate the characteristics of commercial memory devices, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) launched a Solid State Recorder (SSR) on the Mission Demonstration test Satellite-1 (MDS-1 or “Tsubasa”) into geo-stationary transfer orbit (GTO) in February 2002. Passing through the Van Allen belt exposed MDS-1 to severe radioactive rays in every orbit. This flight experiment measured the rate of Single-Event-Upsets (SEUs) on a large number of stacked 64Mbit Dynamic Random Access Memory (DRAM), and the distribution of Total Ionizing Dose (TID) effects. As a result, we can calculate the actual SEU rate, and we confirmed the capabilities of two types of on-the-fly Error Detection and Correction (EDAC) mechanisms. This paper presents the results of the space experiment of SSR, especially focusing on SEU analysis.
キーワード (和) つばさ / MDS-1 / メモリ / DRAM / EDAC / ECC / SEU / シングルイベント効果  
(英) TSUBASA / MDS-1 / memory / DRAM / EDAC / ECC / SEU / SEE  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 102, SANE2005-9, pp. 7-12, 2005年5月.
資料番号 SANE2005-9 
発行日 2005-05-20 (SANE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 SANE  
開催期間 2005-05-27 - 2005-05-27 
開催地(和) 高知工科大学 
開催地(英) Kochi Univ. of Tech. 
テーマ(和) リモートセンシング及び一般 
テーマ(英) Remote Sensing and General 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SANE 
会議コード 2005-05-SANE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 衛星搭載用半導体メモリ装置に対するシングルイベント効果の実測 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Measurement of Single Event Effects on Solid State Memory for Spacecraft 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) つばさ / TSUBASA  
キーワード(2)(和/英) MDS-1 / MDS-1  
キーワード(3)(和/英) メモリ / memory  
キーワード(4)(和/英) DRAM / DRAM  
キーワード(5)(和/英) EDAC / EDAC  
キーワード(6)(和/英) ECC / ECC  
キーワード(7)(和/英) SEU / SEU  
キーワード(8)(和/英) シングルイベント効果 / SEE  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 笹田 武志 / Takeshi Sasada / ササダ タケシ
第1著者 所属(和/英) 宇宙航空研究開発機構 (略称: JAXA)
Japan Aerospace Exploration Agency (略称: JAXA)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 市川 愉 / Satoshi Ichikawa / イチカワ サトシ
第2著者 所属(和/英) 宇宙航空研究開発機構 (略称: JAXA)
Japan Aerospace Exploration Agency (略称: JAXA)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 金井 俊樹 / Toshiki Kanai / カナイ トシキ
第3著者 所属(和/英) 宇宙技術開発株式会社 (略称: 宇宙技術開発)
Space Engineering Development Co., Ltd. (略称: SED)
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講演者
発表日時 2005-05-27 11:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 SANE 
資料番号 IEICE-SANE2005-9 
巻番号(vol) IEICE-105 
号番号(no) no.102 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-SANE-2005-05-20 


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