| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2005-05-27 13:05
2種類の不完全デバッグ作業を考慮したソフトウェア信頼性モデル
○井上真二・山田 茂（鳥取大） |
| 抄録 |
（和） |
ソフトウェア信頼性モデルは，テスト工程や運用段階におけるソフトウェアの信頼性を定量的に計測・評価するための数理モデルとして知られており，多く実用に供されている．その中で，実行過程におけるソフトウェア故障発生現象やフォールト発見事象をソフトウェア信頼度成長過程として記述するソフトウェア信頼度成長モデルは，フォールト修正時にフォールトが完全に修正・除去されると仮定した完全デバッグモデルと，そうでない不完全デバッグモデルの2つに大別される．実際のテスト工程においては，デバッグ作業の実施によって，必ずしも常にフォールトが完全に修正・除去されるとは限らない．したがって，不完全デバッグモデルの方が現実的なモデルであると言える．また，このような不完全デバッグ環境下では，不完全なデバッグ作業により新規フォールトの混入を伴う場合と伴わない場合の2種類が考えれられる．本研究では，このような2種類の不完全デバッグ作業を同時に考慮したソフトウェア信頼度成長モデルについて議論すると共に，実測データを用いた数値例を示す． |
| （英） |
A software reliability model is known as one of the mathematical models to assess software reliability in testing and operation phases quantitatively, and has been applied for practical use. Among the software reliability models, a software reliability growth model (SRGM) which describes software failure-occurrence or fault-detection phenomenon as the software reliability growth process can be roughly classified into the following two models: perfect and imperfect debugging models. In an actual testing phase, we can consider that debugging activities do not always remove faults perfectly. Therefore, the imperfect debugging model is an ideal one for a practical software reliability assessment. Under the imperfect debugging environment, we can consider two types of imperfect debugging activities, such as the activities introducing new faults and the activities introducing no new faults. In this paper, we discuss software reliability growth models considering the two types of imperfect debugging activities, and show numerical examples of our imperfect debugging models by using actual fault count data. |
| キーワード |
（和） |
ソフトウェア信頼性モデル / 不完全デバッグ環境 / 非同次ポアソン過程 / 信頼性評価尺度 / 新規フォールト混入率 / / / |
| （英） |
Software Reliability Model / Imperfect Debugging Environment / Nonhomogeneous Poisson Process / Reliability Assessment Measures / Fault Introduction Rate / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 101, R2005-8, pp. 1-6, 2005年5月. |
| 資料番号 |
R2005-8 |
| 発行日 |
2005-05-20 (R) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
|
| 研究会情報 |
| 研究会 |
R |
| 開催期間 |
2005-05-27 - 2005-05-27 |
| 開催地（和） |
神戸学院大学 |
| 開催地（英） |
Kobe Gakuin Univ. |
| テーマ（和） |
ソフトウェアの信頼性、信頼性理論、信頼性一般 |
| テーマ（英） |
Softwear Reliability, Reliability Theory, etc. |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
R |
| 会議コード |
2005-05-R |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
2種類の不完全デバッグ作業を考慮したソフトウェア信頼性モデル |
| サブタイトル（和） |
|
| タイトル（英） |
Software Reliability Modeling with Simultaneous 2-Types of Imperfect Debugging Activities |
| サブタイトル（英） |
|
| キーワード(1)（和/英） |
ソフトウェア信頼性モデル / Software Reliability Model |
| キーワード(2)（和/英） |
不完全デバッグ環境 / Imperfect Debugging Environment |
| キーワード(3)（和/英） |
非同次ポアソン過程 / Nonhomogeneous Poisson Process |
| キーワード(4)（和/英） |
信頼性評価尺度 / Reliability Assessment Measures |
| キーワード(5)（和/英） |
新規フォールト混入率 / Fault Introduction Rate |
| キーワード(6)（和/英） |
/ |
| キーワード(7)（和/英） |
/ |
| キーワード(8)（和/英） |
/ |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
井上 真二 / Shinji Inoue / イノウエ シンジ |
| 第1著者 所属（和/英） |
鳥取大学 (略称： 鳥取大)
Tottori University (略称： Tottori Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
山田 茂 / Shigeru Yamada / ヤマダ シゲル |
| 第2著者 所属（和/英） |
鳥取大学 (略称： 鳥取大)
Tottori University (略称： Tottori Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第3著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第4著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第5著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第6著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第7著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第8著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第9著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第10著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第11著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第12著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第13著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第14著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第15著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第16著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第17著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第18著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第19著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第19著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 第20著者 氏名（和/英/ヨミ） |
/ / |
| 第20著者 所属（和/英） |
(略称： )
(略称： ) |
| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2005-05-27 13:05:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
R |
| 資料番号 |
R2005-8 |
| 巻番号（vol） |
vol.105 |
| 号番号（no） |
no.101 |
| ページ範囲 |
pp.1-6 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2005-05-20 (R) |
|