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講演抄録/キーワード
講演名 2005-01-28 15:00
スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法
新井雅之黒川晴申市野憲一福本 聡岩崎一彦都立大エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2004-171 ICD2004-216
抄録 (和) 本稿では,複数のスキャンチェーンが存在するスキャンBISTに対する,LFSRの初期値とフェーズシフタの選択法について議論する.LFSRの初期値選択法は,少ない回数の故障シミュレーションを用いて,与えられた故障検出率を最も短いテスト長で達成可能な初期値を高速に検索する.ハードウェアオーバヘッドは必要としない.本手法を複数スキャンチェーン構成に適用することで,テスト時間をさらに圧縮することが期待できる.複数スキャンチェーンにおけるスキャンチェーン間の線形従属性を回避するため,フェーズシフタを併用する.フェーズシフタのためのハードウェアオーバヘッドに制限を設け,フェーズシフタの構成とLFSR初期値を選択する手法について検討する.故障検出率100%を達成する最短テスト長の観点から評価を行う.実験結果から,フェーズシフタを構成するEORゲート数が少ない条件においても,フェーズシフタを用いない場合や,初期値選択法を用いない場合と比較して,テスト長が減少することを示す. 
(英) In this paper, we discuss the application of a seed-selection procedure for LFSR-based BIST to multiple scan chains, combined with a phase shifter. The seed-selection procedure can search the seed of the LFSR that has least test length under the given fault coverage. No hardware overhead is required. By applying this procedure to multiple scan chains, further reduction of testing time can be expected. To avoid linear dependency between scan chains, we combine the procedure with phase shifter. We introduced the procedures for selecting seeds and arrangement of phase shifters under the restriction of limiting additional hardware overheads, and evaluated them in respect to the number of test patterns required to achieve 100% fault coverage. Experimental results shows that that the test length was reduced in comparison with cases in which phase shifters or seed-selection procedures were not applied, under condition where the number of EOR gates in the phase shifter were restricted.
キーワード (和) 初期値選択法 / スキャンBIST / LFSR / フェーズシフタ / / / /  
(英) seed selection procedure / scan BIST / LFSR / phase shifter / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 104, no. 629, ICD2004-216, pp. 53-58, 2005年1月.
資料番号 ICD2004-216 
発行日 2005-01-21 (CPM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2004-171 ICD2004-216

研究会情報
研究会 ICD CPM  
開催期間 2005-01-27 - 2005-01-28 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト実装、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-01-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Selection of Seeds and Phase Shifters for Scan BIST 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 初期値選択法 / seed selection procedure  
キーワード(2)(和/英) スキャンBIST / scan BIST  
キーワード(3)(和/英) LFSR / LFSR  
キーワード(4)(和/英) フェーズシフタ / phase shifter  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ
第1著者 所属(和/英) 東京都立大学 (略称: 都立大)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 黒川 晴申 / Harunobu Kurokawa / クロカワ ハルノブ
第2著者 所属(和/英) 東京都立大学 (略称: 都立大)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 市野 憲一 / Kenichi Ichino / イチノ ケンイチ
第3著者 所属(和/英) 東京都立大学 (略称: 都立大)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 福本 聡 / Satoshi Fukumoto / フクモト サトシ
第4著者 所属(和/英) 東京都立大学 (略称: 都立大)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩崎 一彦 / Kazuhiko Iwasaki / イワサキ カズヒコ
第5著者 所属(和/英) 東京都立大学 (略称: 都立大)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.)
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講演者
発表日時 2005-01-28 15:00:00 
発表時間 30 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-CPM2004-171,IEICE-ICD2004-216 
巻番号(vol) IEICE-104 
号番号(no) no.627(CPM), no.629(ICD) 
ページ範囲 pp.53-58 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-CPM-2005-01-21,IEICE-ICD-2005-01-21 


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