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講演抄録/キーワード
講演名 2005-01-28 14:00
順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について
樋上喜信愛媛大)・梶原誠司九工大)・小林真也高松雄三愛媛大エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2004-169 ICD2004-214
抄録 (和) 本稿では,順序回路のテスト系列に対して,縮退故障検出率を低下させることなく,ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提案する.ここでは,故障シミュレーションを行ってドントケア値を発見する手法を基に,さらに多くのドントケア値を発見するための二つの手法を提案する.また,得られたドントケア値を含むテスト系列を用いた応用として,消費電力削減法とテスト圧縮法を提案する.これらの手法を用いることによって,低消費電力かつ短いテスト系列を得ることが可能となる. 
(英) This paper presents a method for finding don't cares in test sequences hile keeping the original stuck-at fault coverage. Here two method are proposed for obtaining as many don't cares as possible, based on the method that utilizes fault simulation. Moreover as applications of test sequences including don't cares, power reduction method and test compaction method are proposed. By using the methods together, short test sequences with low power dissipation can be obtained.
キーワード (和) 順序回路 / テスト系列 / ドントケア値 / テスト圧縮 / 消費電力削減 / / /  
(英) Sequential circuit / Test sequence / Don't care values / Test compaction / Power reduction / / /  
文献情報 信学技報, vol. 104, no. 629, ICD2004-214, pp. 41-46, 2005年1月.
資料番号 ICD2004-214 
発行日 2005-01-21 (CPM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2004-169 ICD2004-214

研究会情報
研究会 ICD CPM  
開催期間 2005-01-27 - 2005-01-28 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト実装、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-01-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits and Applications to Test Compaction and Power Reduction 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 順序回路 / Sequential circuit  
キーワード(2)(和/英) テスト系列 / Test sequence  
キーワード(3)(和/英) ドントケア値 / Don't care values  
キーワード(4)(和/英) テスト圧縮 / Test compaction  
キーワード(5)(和/英) 消費電力削減 / Power reduction  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ
第1著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Tecnology (略称: Kyushu Inst. Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 真也 / Shin-ya Kobayashi / コバヤ シシンヤ
第3著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 高松 雄三 / Yuzo Takamatsu / タカマツ ユウゾウ
第4著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
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講演者
発表日時 2005-01-28 14:00:00 
発表時間 30 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-CPM2004-169,IEICE-ICD2004-214 
巻番号(vol) IEICE-104 
号番号(no) no.627(CPM), no.629(ICD) 
ページ範囲 pp.41-46 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-CPM-2005-01-21,IEICE-ICD-2005-01-21 


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