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講演抄録/キーワード
講演名 2005-01-28 11:45
故障診断のための観測性の定量化について
豊田直哉梶原誠司温 暁青九工大)・真田 克NECエレクトロニクスエレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2004-167 ICD2004-212
抄録 (和) 現在の故障診断は,回路の外部出力とスキャンフリップフロップを観測点として行うことが多い.しかし,回路の大規模化により,これらの観測のみでは故障分解能が低下し,診断時間も増大する.この問題を解決するには,回路内に観測点を挿入することが有効であるが,故障診断のための観測性の定量的評価手法が存在しないため,観測点挿入による効果が不明瞭になり挿入手法の評価が困難になっている.そこで本論文では,回路構造及び観測点から故障診断のための観測性の定量化について考察する. 
(英) In most fault diagnosis, logic values can be observed at primary outputs and scan flip-flops as observation points. However, the diagnostic resolution with these observation points is insufficient. To improve the diagnostic resolution, observation points for fault diagnosis are inserted in the circuit under diagnosis. On the other hand, studies on test point insertion for diagnosis are hard because observability for fault diagnosis has not been quantified. In this paper we discuss on the diagnostic observability of logic circuits.
キーワード (和) 故障診断 / フルスキャン回路 / テストポイント挿入 / 観測性 / / / /  
(英) fault diagnosis / full scan circuit / test point insertion / observability / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 104, no. 629, ICD2004-212, pp. 31-34, 2005年1月.
資料番号 ICD2004-212 
発行日 2005-01-21 (CPM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2004-167 ICD2004-212

研究会情報
研究会 ICD CPM  
開催期間 2005-01-27 - 2005-01-28 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト実装、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-01-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 故障診断のための観測性の定量化について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On Observability Quantification for Fault Diagnosis of VLSI Circuits 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 故障診断 / fault diagnosis  
キーワード(2)(和/英) フルスキャン回路 / full scan circuit  
キーワード(3)(和/英) テストポイント挿入 / test point insertion  
キーワード(4)(和/英) 観測性 / observability  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 豊田 直哉 / Naoya Toyota / トヨタ ナオヤ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称: KIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称: KIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 真田 克 / Masaru Sanada / サナダ マサル
第4著者 所属(和/英) NECエレクトロニクス株式会社 (略称: NECエレクトロニクス)
NEC Electronics Corporation (略称: NEC Electoronics)
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講演者
発表日時 2005-01-28 11:45:00 
発表時間 30 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-CPM2004-167,IEICE-ICD2004-212 
巻番号(vol) IEICE-104 
号番号(no) no.627(CPM), no.629(ICD) 
ページ範囲 pp.31-34 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-CPM-2005-01-21,IEICE-ICD-2005-01-21 


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