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講演抄録/キーワード
講演名 2005-01-27 14:00
SILプレートによる高分解能故障解析
吉田岳司小山 徹小守純子益子洋治ルネサステクノロジエレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2004-157 ICD2004-202
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文献情報 信学技報, vol. 104, no. 628, ICD2004-202, pp. 13-17, 2005年1月.
資料番号 ICD2004-202 
発行日 2005-01-20 (CPM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2004-157 ICD2004-202

研究会情報
研究会 ICD CPM  
開催期間 2005-01-27 - 2005-01-28 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト実装、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-01-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SILプレートによる高分解能故障解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) High-resolution failure analysis with SIL plate 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 岳司 / Takeshi Yoshida / ヨシダ タケシ
第1著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology (略称: Renesas)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小山 徹 / Thoru Koyama / コヤマ トオル
第2著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology (略称: Renesas)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 小守 純子 / Junko Komori / コモリ ジュンコ
第3著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology (略称: Renesas)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 益子 洋治 / Yoji Mashiko / マシコ ヨウジ
第4著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology (略称: Renesas)
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講演者
発表日時 2005-01-27 14:00:00 
発表時間 30 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-CPM2004-157,IEICE-ICD2004-202 
巻番号(vol) IEICE-104 
号番号(no) no.626(CPM), no.628(ICD) 
ページ範囲 pp.13-17 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-CPM-2005-01-20,IEICE-ICD-2005-01-20 


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