電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 114, Number 314

信頼性

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目次

R2014-61
マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測
○桃田　快・遠藤幸一・御堂義博・三浦克介・中前幸治（阪大）
pp. 1 - 5

R2014-62
最尤推定法に基づくセラミックコンデンサの電圧加速モデルの選択
○松岡敏成（三菱電機）
pp. 7 - 14

R2014-63
結露試験に関する再現性の課題と微小結露試験による評価方法
○西原麻友子・林沼一博（村田製作所）
pp. 15 - 19

R2014-64
微摺動摩耗試験の一考察
○伊藤貞則（イトケン事務所）
pp. 21 - 24

注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．