LSIのテスト・診断技術論文小特集の発行にあたって
玉本英夫 ………………………………………………………………1001
招待論文
縮退故障とパス遅延故障のためのプロセッサの命令レベル自己テスト法
井上美智子 神戸和子 ヴィレンドラ シン 藤原秀雄 ………1003
特集論文
〔テスト圧縮〕
BAST：BIST Aided Scan Test―テストコスト削減のための新しい手法―
相京 隆 平出貴久 江守道明 ……………………………………1012
高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について
市原英行 井上智生 …………………………………………………1021
〔診断〕
BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法
高橋 寛 山本幸大 樋上喜信 高松雄三 ………………………1029
〔テスト手法〕
スキャンテストにおける電源電圧ドロップの問題と新たな設計手法
吉田貴輝 ………………………………………………………………1039
基板電圧バックバイアス状態での低電圧テストにおける 短絡欠陥検出能力の評価
佐藤康夫 河野正樹 池田聡雄 山崎 巌 浜本正人
岩崎一彦 ………………………………………………………………1047
縮退故障のテスト生成アルゴリズムを用いたパス遅延故障に対するテスト生成法
大谷浩平 大竹哲史 藤原秀雄 ……………………………………1057
〔テスタ開発〕
低消費電力基板型再構成テスタの開発
佐藤正幸 大塚信行 武藤 治 新井雅之 福本 聡 岩崎一彦
上原孝二 志水 勲 間明田治佳 …………………………………1065
〔VLSIシステム〕
ネットワークオンチップにおけるローカルラベリング方式の評価
安生健一朗 鯉渕道紘 山田 裕 上楽明也 天野英晴 ………1076
〔ネットワーク〕
リモートディスプレイ環境におけるJava対応携帯電話を用いた情報閲覧システム
前川卓也 上向俊晃 原 隆浩 西尾章治郎 ……………………1091
〔教育工学〕
拡張性向上のための教材オブジェクトアーキテクチャを用いたWBTシステムの開発
仲林 清 永岡慶三 …………………………………………………1104
レター
環境の変化によって生じる複雑な形をした雪の結晶の類似パターン生成
広瀬貞樹 山下和也 小越康宏 木村春彦 ………………………1115
英文論文誌紹介(IEICE Transactions on Information and Systems)…1119
複写される方へ… 1121