No |
107880 |
標題(和) |
非接触ICカード共振周波数のEOSプローブを用いた測定 |
標題(英) |
Measurement of the resonance frequency of contactless IC cards using an EOS probe |
研究会名(和) |
通信方式 無線通信システム |
研究会名(英) |
Communication Systems Radio Communication Systems |
開催年月日 |
1999-06-24 |
終了年月日 |
1999-06-25 |
会議種別コード |
2 |
共催団体名(和) |
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資料番号 |
CS99−33,RCS99−25 |
抄録(和) |
非接触ICカードの共振周波数は質問器からカードへの電力伝送効率や、同時に使用できるカード枚数を決める重要なパラメーターである。しかし、この共振周波数を電気的に測定する場合、センシングコイルと非接触ICカードのアンテナが結合して、正確な値を測定することが困難であった。そこで、広帯域でハイインピーダンス測定が可能なEOSプローブを用いて、光で非接触ICカードの共振周波数測定法を考案し、実際に測定を行った。本方法は、非接触ICカードが発生する電界を電気光学結晶の屈折率変化として、光で検出するため、被測定物に電気的影響を与えることなく、正確な共振周波数を測定することが可能であることを初めて示した。 |
抄録(英) |
A novel measurement of the resonance frequency for contactless IC cards is presented. The resonance frequency of the contactless IC card was difficult to precisely determined because of electro-magnetic coupling between the antenna in the card and measurement probes, although the frequency is very important factor on energy and data transmission. Thus, an electro-optic-sampling (EOS) probe was employed to detect the resonance frequency of the cards. By using the EOS probe, precise resonance frequency measurement is achieved without influence of the electric coupling. |
収録資料名(和) |
電子情報通信学会技術研究報告 |
収録資料の巻号 |
Vol. 99No.139,140,141,142 |
ページ開始 |
1 |
ページ終了 |
5 |
キーワード(和) |
EOSプロブ |
キーワード(英) |
EOS probe |
本文の言語 |
JPN |
著者(和) |
品川満 |
著者(ヨミ) |
シナガワミツル |
著者(英) |
Shinagawa Mitsuru |
所属機関(和) |
NTT通信エネルギー研究所 |
所属機関(英) |
NTT Communication Energy Laboratories |
著者(和) |
永井靖浩 |
著者(ヨミ) |
ナガイヤスヒロ |
著者(英) |
Nagai Yasuhiro |
所属機関(和) |
NTTサイバースペース研究所 |
所属機関(英) |
NTT Cyber Space Laboratories |
著者(和) |
大谷佳光 |
著者(ヨミ) |
オオタニヨシミツ |
著者(英) |
Ohtani Yoshimitsu |
所属機関(和) |
NTTサイバースペース研究所 |
所属機関(英) |
NTT Cyber Space Laboratories |
著者(和) |
村田幸嗣 |
著者(ヨミ) |
ムラタコウシ |
著者(英) |
Murata Koushi |
所属機関(和) |
NTTサイバースペース研究所 |
所属機関(英) |
NTT Cyber Space Laboratories |
著者(和) |
つる浩二 |
著者(ヨミ) |
ツルコウジ |
著者(英) |
Tsuru Koji |
所属機関(和) |
NTTサイバースペース研究所 |
所属機関(英) |
NTT Cyber Space Laboratories |