Last-modified: 2006年11月13日 (月) 09時43分45秒
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11月29日(水) 16:40〜17:40
Room F
座長: 山田 功(東京工業大学)
- 電子透かしの検出誤り訂正方式に関する一検討
○ 菅井 豊和(三菱電機), 伊藤 浩(三菱電機), 加藤 嘉明(三菱電機), 浅井 光太郎(三菱電機), 村上 篤道(三菱電機)
- 唇動作を用いた個人認証アルゴリズムの精度向上に関する検討
◎ 中山 友博(早稲田大学), 市野 将嗣(早稲田大学), 小松 尚久(早稲田大学)
- 白色度を用いた実動画像からの標的の追跡
◎ 武井 昌史(公立はこだて未来大学), 高橋 信行(公立はこだて未来大学), 松岡 尚弥(凸版印刷)
