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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-26 16:00 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | ランダム・テレグラフ・ノイズに起因した組合せ回路遅延ゆらぎに対する基板バイアスの影響 ○松本高士（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大）  VLD2012-70 DC2012-36 |
近年のLSI素子の微細化により、NBTIおよび、RTNなどのゲート絶縁膜の信頼性が回路の信頼性に与える影響がますます深刻... [more] | VLD2012-70 DC2012-36 pp.63-68 |
| VLD | 2012-03-07 09:40 |
大分 | ビーコンプラザ | 冗長化FF置き換え方式による高信頼性VLSI設計の自動化 ○矢野 憲（福岡大/JST）・吉木崇人・林田隆則（福岡大）・佐藤寿倫（福岡大/JST） VLD2011-133 |
ディープサブミクロン領域での素子特性のばらつきや、経年劣化、ソフトエラーによるタイミングエラー対策としてカナリアFFを用... [more] | VLD2011-133 pp.79-84 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-29 15:05 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法 ○松本高士・牧野紘明（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） CPM2011-160 ICD2011-92 |
近年のLSI の微細化により、信頼性の高いシステムを構築することはますます困難となってきている。主要な要因の１つとして、... [more] | CPM2011-160 ICD2011-92 pp.59-63 |
| ICD | 2010-12-16 15:10 |
東京 | 東京大学 先端科学技術研究センター | ［ポスター講演］測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討 ○松本高士・牧野紘明（京大）・小林和淑（京都工繊大/JST）・小野寺秀俊（京大/JST） ICD2010-104 |
本論文において我々は400nsの測定遅延を持つNBTI回復センサー回路を提案した。本回路は多数のユニットセルを含む。1つ... [more] | ICD2010-104 pp.55-58 |
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