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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-02-28 16:15 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch with Improved Soft Error Tolerability ○Ruijun Ma（AUST）・Stefan Holst・Xiaoqing Wen（KIT）・Hui Xu（AUST）・Aibin Yan（AU）  DC2022-91 |
[more] | DC2022-91 pp.51-55 |
| DC | 2022-12-16 13:10 |
山口 | 旧大阪商船「海峡ロマンホール」 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
LSI微小遅延故障診断の高精度化について ○藤田慎ノ介・ステファン ホルスト・温 暁青（九工大） DC2022-72 |
今日のタイトなタイミングマージン、製造ばらつきの増加、ナノメータ技術の発達に伴い、タイミング関連の欠陥がLSI技術の発展... [more] | DC2022-72 pp.1-6 |
| DC | 2022-12-16 13:50 |
山口 | 旧大阪商船「海峡ロマンホール」 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ストカスティック演算を用いたニューラルネットワークの耐故障性能評価 ○永島遼河・ステファン ホルスト・温 暁青（九工大） DC2022-74 |
近年では、ニューラルネットワークの複雑化と素子の大規模化が進んでいる。それに伴い、回路面積の増大と消費電力の増大といった... [more] | DC2022-74 pp.12-16 |
| DC | 2021-02-05 11:35 |
ONLINE | オンライン開催 | A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design ○Ruijun Ma・Stefan Holst・Xiaoqing Wen（KIT）・Aibin Yan（AHU）・Hui Xu（AUST） DC2020-71 |
[more] | DC2020-71 pp.12-17 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 09:25 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping ○Yucong Zhang・Stefan Holst・Xiaoqing Wen・Kohei Miyase・Seiji Kajihara（KIT）・Jun Qian（AMD） VLD2017-42 DC2017-48 |
[more] | VLD2017-42 DC2017-48 pp.91-94 |
| DC | 2016-02-17 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について ○李 富強・温 暁青・ホルスト シュテファン・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大） DC2015-87 |
スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロ... [more] | DC2015-87 pp.7-12 |
| DC | 2014-06-20 14:05 |
東京 | 機械振興会館 | 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法 ○李 富強・温 暁青・宮瀬紘平・ホルスト シュテファン・梶原誠司（九工大） DC2014-12 |
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため，セルの実効電圧降下 （IR-Drop）との関わりの強いローカル... [more] |
DC2014-12 pp.15-20 |
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