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講演検索結果
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 29件中 1〜20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SS, DC
(共催)
2017-10-20
10:00
高知 高知市文化プラザかるぽーと Efficient Self-Stabilizing 1-Maximal Matching Algorithm for Arbitrary Networks
Michiko InoueFukuhito OoshitaNAIST)・Sebastien TixeuilUPMC
(ご登録済みです.開催日以降に掲載されます) [more]
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2017-03-10
09:30
沖縄 具志川農村環境改善センター フェイルダイ特性を考慮したLSIテスト結果予測の精度向上に関する研究
佐藤敬済井上美智子奈良先端大
LSIは様々なテストを経て, すべてのテストをパスした製品のみを出荷している. しかし, 大量の製品に対して, 数多くの... [more] CPSY2016-144 DC2016-90
pp.291-296
DC 2016-12-16
13:00
山形 酒田市 総合文化センター(山形県酒田市) High Reliable Memory Architecture with Adaptive Combination of Aging-Aware In-Field Self-Repair and ECC
Gian MayugaYuta YamatoNAIST)・Yasuo SatoKIT)・○Michiko InoueNAIST
 [more] DC2016-64
pp.1-6
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-30
11:45
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス A Golden-IC Free Clock Tree Driven Authentication Approach for Hardware Trojan Detection
Fakir Sharif HossainTomokazu YonedaMichiko InoueNAIST)・Alex OrailogluUCSD
 [more] VLD2016-67 DC2016-61
pp.135-140
DC, SS
(共催)
2016-10-27
11:50
滋賀 彦根勤労福祉会館(彦根市) MRSWレジスタモデルに対するオブリビアス敵対スケジューラ下での無待機乱択合意アルゴリズムの高速化
守屋 宣近畿大)・井上美智子奈良先端大
MRSWレジスタによる非同期共有メモリシステムに対する,オブリビアス敵対スケジューラ下での無待機乱択合意アルゴリズムにつ... [more] SS2016-20 DC2016-22
pp.13-18
COMP 2016-09-06
11:00
富山 富山県立大学 ビザンチン環境における認証機能付き白板を用いたモバイルエージェント集合アルゴリズム
土田将司大下福仁井上美智子奈良先端大
本稿では,ビザンチン環境において,モバイルエージェントを一つのノードに集合させるアルゴリズムを提案する.提案するアルゴリ... [more] COMP2016-15
pp.7-14
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(連催)
(併催) [詳細]
2016-03-25
15:45
長崎 福江文化会館・勤労福祉センター LSIテストにおけるフェイル予測のためのばらつき補正に関する検討
小河 亮奈良先端大)・中村芳行ルネサス セミコンダクタパッケージ&テストソリューションズ)・井上美智子奈良先端大
近年,データマイニングを用いたテストコスト削減手法が注目を集めている.LSIは多数のテスト工程を経て市場に出荷される.こ... [more] CPSY2015-158 DC2015-112
pp.271-276
DC 2016-02-17
11:55
東京 機械振興会館 ゼロ遅延論理シミュレーションに基づく遅延故障インジェクション環境
川崎真司米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大
故障インジェクションとは,故障が発生した回路の振る舞いを再現するための技術であり,ソフトエラーの影響解析などの目的で使用... [more] DC2015-90
pp.25-30
DC 2016-02-17
14:25
東京 機械振興会館 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法
里中沙矢香米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大
テストコスト削減の一手法として組込み自己テスト(Built-In Self Test, BIST) が幅広く用いられてい... [more] DC2015-92
pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
12:45
長崎 長崎県勤労福祉会館 Scan Segmentation Approach to Magnify Detection Sensitivity for Tiny Hardware Trojan
Fakir Sharif HossainTomokazu YonedaMichiko InoueNAIST
 [more] VLD2015-38 DC2015-34
pp.1-6
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
13:50
長崎 長崎県勤労福祉会館 メモリの隣接パタン依存故障テストに対するバックグラウンド列の生成
上岡真也米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大
メモリセルの隣接パタン依存故障 (Neighborhoodpatternsensitivefaults : NPSF) ... [more] VLD2015-40 DC2015-36
pp.19-24
COMP 2015-09-01
14:00
長野 信州大学 木においてDデーモン下で1-極大マッチングを求めるサイレントな匿名自己安定アルゴリズム
麻田優真大下福仁・○井上美智子奈良先端大
We propose a silent self-stabilizing 1-maximal matching algo... [more] COMP2015-20
pp.27-34
DC 2014-12-19
14:15
富山 高岡テクノドーム Reliability of ECC-based Memory Architectures with Online Self-repair Capabilities
Gian MayugaYuta YamatoTomokazu YonedaNAIST)・Yasuo SatoKyutech)・Michiko InoueNAIST
 [more] DC2014-70
pp.19-24
DC 2014-10-27
15:20
東京 機械振興会館 An Efficient Silent Self-Stabilizing Algorithm to Solve 1-Maximal Matching in Anonymous Networks
Yuma AsadaMichiko InoueNAIST
We propose a new self-stabilizing 1-maximal matching algorit... [more] DC2014-23
pp.11-16
COMP 2014-03-10
14:15
東京 明治大学 オブリビアス敵対スケジューラ下でのMRSWレジスタを用いた乱択合意アルゴリズム
中島 悟井上美智子奈良先端大
本研究では, 共有メモリ分散システム上において, オブリビアス敵対スケジューラ下で乱択合意アルゴリズムを提案する.
... [more]
COMP2013-68
pp.53-60
DC 2013-12-13
13:00
石川 和倉温泉観光会館 FPGA向けアプリケーション依存テストのための効率的なスキャンBISTアーキテクチャ
伊藤渓太米田友和大和勇太畠山一実井上美智子奈良先端大
本論文では,FPGA上のアプリケーション回路をテスト対象とした効率の良いスキャンBISTアーキテクチャを提案する.
提... [more]
DC2013-68
pp.1-6
DC 2013-02-13
16:40
東京 機械振興会館 フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法
吉見優太奈良先端大)・畠山一実大和勇太米田友和井上美智子奈良先端大/JST
圧縮テストを行う際に発生する不定値は圧縮効率やテスト品質に悪影響を及ぼすため,その処理手法について盛んに研究が行われてい... [more] DC2012-90
pp.61-66
DC 2012-06-22
16:10
東京 機械振興会館 On Per-Cell Dynamic IR-Drop Estimation in At-Speed Scan Testing
Yuta YamatoTomokazu YonedaKazumi HatayamaMichiko InoueNAIST
 [more] DC2012-15
pp.39-44
DC 2012-02-13
15:55
東京 機械振興会館 フィールドにおける劣化検知のための動的テストスケジューリング
森永洋介奈良先端大)・米田友和奈良先端大/JST)・李 賢彬Hanbat National Univ.)・井上美智子奈良先端大/JST
 [more] DC2011-85
pp.55-60
DC 2011-02-14
11:50
東京 機械振興会館 テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法
小副川絵美子米田友和井上美智子藤原秀雄奈良先端大/JST
LSIのフィールド使用時における劣化検知は,LSIの品質や信頼性を保証するための重要な技術である.劣化は遅延値の増加とし... [more] DC2010-63
pp.27-32
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