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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM, ED, CPM
(共催)
2013-05-17
11:45
静岡 静大(浜松)創造科学技術大学院 Electron-tunneling operation of single-dopant-atom transistors at elevated temperature -- Toward room temperature operation --
Daniel MoraruEarfan HamidArup SamantaShizuoka Univ.)・Le The AnhJAIST)・Takeshi MizunoShizuoka Univ.)・Hiroshi MizutaJAIST/Southampton Univ.)・Michiharu TabeShizuoka Univ.ED2013-28 CPM2013-13 SDM2013-35
 [more] ED2013-28 CPM2013-13 SDM2013-35
pp.65-70
SDM, ED
(共催)
2013-02-27
15:40
北海道 北海道大学(百年記念会館) Individual Dopant Nature in Si Lateral Nano-pn Junctions
Sri PurwiyantiArief UdhiartoShizuoka Univ./Univ. Indonesia)・Roland NowakShizuoka Univ./Warsaw Univ. of Tech.)・Daniel MoraruTakeshi MizunoShizuoka Univ.)・Djoko HartantoUniv. Indonesia)・Ryszard JablonskiWarsaw Univ. of Tech.)・Michiharu TabeShizuoka Univ.ED2012-132 SDM2012-161
In this work, we report the experimental observation of dopa... [more] ED2012-132 SDM2012-161
pp.25-30
ED, SDM
(共催)
2012-02-07
14:10
北海道 北海道大学 百年記念会館 第一原理計算によるシリコンナノトランジスタ中の単一リン不純物の電子状態解析
葛屋陽平モラル ダニエル水野武志田部道晴静岡大)・水田 博北陸先端大/サザンプトン大ED2011-143 SDM2011-160
MOSFETの微細化に伴い、ランダムドーパントによる特性の揺らぎが大きな問題となってきている。これは、ナノメータ領域のチ... [more] ED2011-143 SDM2011-160
pp.7-11
ED, SDM
(共催)
2012-02-07
14:35
北海道 北海道大学 百年記念会館 KFM observation of individual dopant potentials and electron charging
Roland NowakMiftahul AnwarDaniel MoraruTakeshi MizunoShizuoka Univ.)・Ryszard JablonskiWarsaw Univ. of Tech.)・Michiharu TabeShizuoka Univ.ED2011-144 SDM2011-161
We utilize Kelvin probe force microscope (KFM) to measure su... [more] ED2011-144 SDM2011-161
pp.13-18
SDM, ED
(共催)
2011-02-24
10:20
北海道 北海道大学 百年記念会館 Single-Electron Transfer between Two Donors in Thin Nanoscale Silicon Transistors
Daniel MoraruEarfan HamidJuli Cha TaridoSakito MikiRyusuke NakamuraTakeshi MizunoMichiharu TabeShizuoka Univ.ED2010-202 SDM2010-237
 [more] ED2010-202 SDM2010-237
pp.57-62
SDM, ED
(共催)
2011-02-24
11:10
北海道 北海道大学 百年記念会館 Current Intermittency in SOI-FETs under Light Illumination
Arief UdhiartoDaniel MoraruRyusuke NakamuraTakeshi MizunoMichiharu TabeShizuoka Univ.ED2010-204 SDM2010-239
あらまし 私たちは連続光照射がSOI電界効果トランジスタ(SOI-FETs)における量子ドットを介した単電子輸送に与え... [more] ED2010-204 SDM2010-239
pp.67-72
ED, SDM
(共催)
2010-07-01
11:50
東京 東工大 大岡山キャンパス [招待講演]Si単一ドーパントデバイスとその特性
田部道晴Daniel MoraruEarfan HamidMiftahul AnwarArief Udhiarto中村竜輔三木早樹人水野武志静岡大ED2010-80 SDM2010-81
 [more] ED2010-80 SDM2010-81
pp.131-136
SDM, CPM, ED
(共催)
2010-05-13
15:25
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) PドープSi SOI-MOSFETにおける単電子の帯電メモリ効果
Earfan HamidJuli ChaTaridoSakito MikiDaniel MoraruTakeshi MizunoMichiharu Tabe静岡大ED2010-21 CPM2010-11 SDM2010-21
 [more] ED2010-21 CPM2010-11 SDM2010-21
pp.23-26
SDM, CPM, ED
(共催)
2010-05-13
15:50
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) リンをドープした単一および多重ドットSOI-FETによるフォトン検出
Arief UdhiartoDaniel MoraruRyusuke NakamuraSakito MikiTakeshi MizunoMichiharu Tabe静岡大ED2010-22 CPM2010-12 SDM2010-22
 [more] ED2010-22 CPM2010-12 SDM2010-22
pp.27-31
ED, SDM
(共催)
2008-01-30
14:20
北海道 北海道大学 Dopant ionization in silicon nanodevices investigated by Kelvin Probe Force Microscope
Maciej LigowskiShizuoka Univ./Warsaw Univ. of Tech.)・Ratno NuryadiAkihiro IchirakuMiftahul AnwarShizuoka Univ.)・Ryszard JablonskiWarsaw Univ. of Tech.)・Michiharu TabeShizuoka Univ.ED2007-239 SDM2007-250
Dopant ionization was investigated by Kelvin Probe Force Mic... [more] ED2007-239 SDM2007-250
pp.11-16
ED, SDM
(共催)
2008-01-30
14:45
北海道 北海道大学 Design of dopant-induced quantum dot arrays in silicon nanostructures for single-electron transfer
Daniel MoraruDaisuke NagataKiyohito YokoiHiroya IkedaMichiharu TabeShizuoka Univ.ED2007-240 SDM2007-251
Randomly distributed dopants in the channel of silicon-on-in... [more] ED2007-240 SDM2007-251
pp.17-22
ED, SDM
(共催)
2007-06-25
13:00
海外 Commodore Hotel Gyeongju Chosun, 慶州, 韓国 [招待講演]Si single-electron FETs for single-photon detection
Michiharu TabeRatno NuryadiZainal BurhanudinShizuoka Univ.
我々は、Siデバイスのブレークスルーにとって、3つの要素が重要と考えて研究を進めている。すなわち、単電子の転送制御、単一... [more]
SDM, ED
(共催)
2007-02-02
13:20
北海道 北海道大学 百年記念会館 不規則系多重トンネル接合による単電子転送の時間制御
モラル ダニエル静岡大)・小野行徳NTT)・猪川 洋横井清人ラトノ ヌルヤディ池田浩也田部道晴静岡大
 [more] ED2006-255 SDM2006-243
pp.83-88
SDM, ED
(共催)
2007-02-02
13:40
北海道 北海道大学 百年記念会館 Photon irradiation effects on Si multiple-tunnel-junction field-effect transistors -- Sensing the presence of a single-charge in the substrate --
Zainal BurhanudinRatno NuryadiMichiharu TabeShizuoka Univ.
 [more] ED2006-256 SDM2006-244
pp.89-94
ED, CPM, SDM
(共催)
2006-05-19
14:35
愛知 豊橋技術科学大学VBL Light irradiation effect on single-hole-tunneling current of an SOI-FET
ザイナル ブルハヌディンラトノ ヌルヤディ田部道晴静岡大
 [more] ED2006-39 CPM2006-26 SDM2006-39
pp.107-111
ED, CPM, SDM
(共催)
2006-05-19
15:00
愛知 豊橋技術科学大学VBL Tunneling current oscillations in Si/SiO2/Si structures
Daniel MoraruDaisuke NagataShizuoka Univ.)・Seiji HoriguchiAkita Univ.)・Ratno NuryadiHiroya IkedaMichiharu TabeShizuoka Univ.
 [more] ED2006-40 CPM2006-27 SDM2006-40
pp.113-117
ED, SDM
(共催)
2006-01-26
13:30
北海道 北海道大学 百年記念会館 大会議室 人工転位網を内包したSOI構造を用いたシリコンナノデバイス
石川靖彦山本智寛田部道晴静岡大
 [more] ED2005-224 SDM2005-236
pp.1-6
ED, SDM
(共催)
2006-01-26
16:35
北海道 北海道大学 百年記念会館 大会議室 Si多重ドット構造における単一フォトン誘起ランダム・テレグラフ・シグナル
ラトノ ヌルヤディ石川靖彦田部道晴静岡大
 [more] ED2005-230 SDM2005-242
pp.35-38
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