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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2016-06-20 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | テスト容易化機能的時間展開モデル生成のためのテスト容易化バインディング法 ○佐藤 護・細川利典・増田哲也・西間木 淳（日大）・藤原秀雄（阪学院大）  DC2016-14 |
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，テスト容易化機能的時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている... [more] | DC2016-14 pp.25-30 |
| DC | 2015-02-13 11:55 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法 ○吉村正義（京都産大）・西間木 淳・細川利典（日大） DC2014-82 |
[more] | DC2014-82 pp.25-30 |
| DC | 2015-02-13 14:55 |
東京 | 機械振興会館 | 階層テスト容易化高位合成におけるスケジューリングの一手法 ○西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-84 |
著者らは先に，コントロールデータフローグラフを利用した階層テストにおいて，階層テスト可能演算器数を増加させるための階層テ... [more] | DC2014-84 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 10:30 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | キャプチャ消費電力削減のためのマルチサイクルキャプチャテスト生成法 ○山崎紘史・西間木 淳・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） VLD2014-100 DC2014-54 |
[more] | VLD2014-100 DC2014-54 pp.191-196 |
| DC | 2014-06-20 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | テスト環境生成結果を用いた階層テスト容易化バインディング法 ○西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-16 |
効率的な順序回路テスト生成法として機能レジスタ転送レベルの回路情報を利用した階層テスト生成法が提案されている．機能レジス... [more] | DC2014-16 pp.39-44 |
| DC | 2014-06-20 16:25 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的k時間展開モデルのテスト容易性評価 ○増田哲也・西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-17 |
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，機能的k時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている．機能的k... [more] | DC2014-17 pp.45-50 |
| DC | 2014-02-10 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2013-89 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-89 pp.61-66 |
| DC | 2013-06-21 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法 ○兒玉雄佑・西間木 淳・増田哲也・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2013-10 |
近年，LSIの設計生産性の向上とテストコスト削減のため，動作合成においてデータパスのテスト容易化合成が提案されている．提... [more] | DC2013-10 pp.1-6 |
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