お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催スケジュール
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
    [Japanese] / [English] 
研究会名/開催地/テーマ  )→
 
講演検索  検索語:  /  範囲:題目 著者 所属 抄録 キーワード )→

すべての研究会開催スケジュール  (検索条件: すべての年度)

講演検索結果
 登録講演(開催プログラムが公開されているもの)  (日付・降順)
 5件中 1~5件目  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
LQE 2009-12-11
11:25
東京 機械振興会館 地下3階2号室 OBICモニタを使ったInAs/InP MQW-DFBレーザの安定動作の解析
竹下達也佐藤具就満原 学近藤康洋大橋弘美NTTLQE2009-143
2.3$\micron$m波長InAs/InP-MQW-DFBレーザで推定寿命$10^5$h以上(@45℃3mW)の長期... [more] LQE2009-143
pp.25-30
OPE, CPM, R
(共催)
2008-04-18
14:05
東京 機械振興会館 光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析
竹下達也伊賀龍三須郷 満近藤康洋NTTR2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3
光励起電流測定法を用い、高温におけるInGaAsP-DFBレーザの劣化姿態が研究された。Ru添加InP SIBHを導入し... [more] R2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3
pp.11-16
OPE, LQE, OCS
(共催)
2006-10-13
15:20
福岡 九大 筑紫キャンパス 高信頼SIBH構造1.5μmDFBレーザ
竹下達也田所貴志伊賀龍三東盛裕一NTT)・山本ミツ夫NEL)・須郷 満NTTOCS2006-58 OPE2006-111 LQE2006-100
95℃で1000FITs以下の信頼度をもち、さらに、-20℃から100℃の温度範囲でエラーフリー・2.5Gbps・80k... [more] OCS2006-58 OPE2006-111 LQE2006-100
pp.91-95
OPE, LQE
(共催)
2006-06-30
10:10
東京 機械振興会館 高抵抗RuドープInP埋込み構造を用いた1.3μm帯InGaAsP DFBレーザの100℃,10Gb/s動作
伊賀龍三近藤康洋竹下達也岸 健志湯田正宏NTT
Ruthenium(Ru)をドープした高抵抗InP膜で埋込んだ構造の1.3ミクロン帯InGaAsP系MQW DFBレーザ... [more] OPE2006-16 LQE2006-20
pp.7-10
LQE 2004-12-03
16:30
東京 機械振興会館 InGaAs/GaAs歪量子井戸レーザの突発故障解析
竹下達也須郷 満佐々木 徹東盛裕一NTT
AR(Antireflection)端面からOBIC強度(Optical-Beam Induced Current)をモ... [more] LQE2004-129
pp.59-64
 5件中 1~5件目  /   
ダウンロード書式の初期値を指定してください NEW!!
テキスト形式 pLaTeX形式 CSV形式 BibTeX形式
著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会