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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD, CPSY, CAS
(共催)
2017-12-14
10:40
沖縄 アートホテル石垣島 統計的コンパレータを用いたレベルクロス検出手法の性能解析
杉山泰基飯塚哲也東大)・山口隆弘アドバンテスト)・名倉 徹浅田邦博東大
レベルクロス検出手法にもとづくADCでは電圧ではなく時間を量子化する。クロック周波数を2倍としたとき、通常のADCではS... [more] CAS2017-66 ICD2017-54 CPSY2017-63
pp.15-20
ICD, ITE-IST
(連催)
2010-07-22
14:00
大阪 常翔学園大阪センター [招待講演]デジタルアシスト・アナログテスト技術 ~ ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術 ~
小林春夫山口隆弘群馬大
ここではミックストシグナルSoCのアナログ部のテストに関して
現状と問題点を示し,次の2つの内容について考察する.~
... [more]
ICD2010-27
pp.37-42
ICD 2005-05-27
16:10
兵庫 神戸大学 リファレンスクロックを必要としないプログラム可能なオンチップジッタ測定回路
一山清隆石田雅裕山口隆弘アドバンテスト)・マニ ソーマワシントン大)・須田昌克岡安俊幸渡邊大輔山本和弘アドバンテスト
リファレンスクロックを必要としない新しいオンチップジッタ測定回路を提案する.提案回路は,可変遅延回路,インターリーブ方式... [more] ICD2005-38
pp.57-60
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