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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, HWS
(併催)
2018-02-28
17:20
沖縄 沖縄県青年会館 FDSOIに適したスタック構造におけるソフトエラー対策手法の提案・評価と微細化による影響の評価
丸岡晴喜山田晃大榎原光則古田 潤小林和淑京都工繊大
トランジスタサイズの微細化に伴い、ソフトエラーにより集積回路の信頼性が低下している。本稿では65 nm FDSOI プロ... [more] VLD2017-103
pp.85-90
VLD, HWS
(併催)
2018-02-28
17:45
沖縄 沖縄県青年会館 65 nm FDSOIプロセスのトランジスタモデルの違いによるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価
榎原光則丸岡晴喜山田晃大古田 潤小林和淑京都工繊大
ムーアの法則に従い, 集積回路 (LSI)が微細化することで, PCやスマートフォン
といった高性能な製品を作れるよう... [more]
VLD2017-104
pp.91-96
ICD, CPSY, CAS
(共催)
2017-12-14
15:10
沖縄 アートホテル石垣島 Matrix Exponential法を用いたパワーMOSFETの過渡解析の高速化
亀井達也熊代成孝小林和淑京都工繊大
パワーデバイスの設計・開発において、シミュレーション時間の短縮が求められている。本研究では、デバイス過渡解析における正確... [more] CAS2017-87 ICD2017-75 CPSY2017-84
pp.107-112
SDM 2017-11-10
14:30
東京 機械振興会館 [招待講演]行列指数法によるデバイス過渡シミュレーションの正確な時間刻み指標
熊代成孝亀井達也廣木 彰小林和淑京都工繊大
パワーデバイスの過渡シミュレーションの正確な時間刻み制御指標を提案する。本指標は行列指数法によって求められた、デバイス構... [more] SDM2017-70
pp.47-52
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
14:15
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス TCADシミュレーションを用いたFDSOIプロセスの耐ソフトエラー回路構造の検討
山田晃大丸岡晴喜梅原成宏古田 潤小林和淑京都工繊大
集積回路はムーアの法則に従って微細化してきたが,それに伴いソフトエラーに
よる信頼性の低下が問題となっている.既にソ... [more]
VLD2016-49 DC2016-43
pp.31-36
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
14:40
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス PHITS-TCADシミュレーションによるFinFETとFDSOIのソフトエラー耐性の評価
梅原成宏古田 潤小林和淑京都工繊大
集積回路の微細化に伴い,ソフトエラーによる信頼性の低下が問題となっている.近年,SOIやFinFETのような従来と異なる... [more] VLD2016-50 DC2016-44
pp.37-41
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:05
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 重イオン照射測定によるFDSOIにおけるFFのソフトエラー耐性の評価
一二三 潤梅原成宏丸岡晴喜古田 潤小林和淑京都工繊大
微細プロセスではレイアウト構造を変更することで様々な影響が及ぶ.本研究では 28 nm と 65 nm の FDSOI ... [more] VLD2016-51 DC2016-45
pp.43-48
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:30
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法
籔内美智太郎大島 梓駒脇拓弥小林和淑岸田 亮古田 潤京都工繊大)・Pieter WeckxKUL/IMEC)・Ben KaczerIMEC)・松本高士東大)・小野寺秀俊京大
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] VLD2016-52 DC2016-46
pp.49-54
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
09:40
京都 京都工芸繊維大学 40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化
大島 梓京都工繊大)・Pieter WeckxBen KaczerIMEC)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大
 [more] ICD2015-63 CPSY2015-76
pp.1-6
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
16:00
京都 京都工芸繊維大学 [ポスター講演]40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化
大島 梓京都工繊大)・Pieter WeckxBen KaczerIMEC)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大
 [more]
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-18
09:00
京都 京都工芸繊維大学 65nmバルクとThin BOX FD-SOIプロセスにおける冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価
曽根崎詠二久保田勘人増田政基神田翔平古田 潤小林和淑京都工繊大
集積回路の微細化に伴って、ソフトエラーにより信頼性の低下が顕在化している。ソフトエラーの対策技術としてTMRFFのような... [more] ICD2015-83 CPSY2015-96
pp.69-74
RECONF 2015-06-19
17:00
京都 京都大学 [招待講演]集積回路の信頼性
小林和淑京都工繊大
 [more] RECONF2015-13
p.71
VLD 2015-03-03
09:40
沖縄 沖縄県青年会館 プロセスばらつきとBTIの相関を考慮したタイミングマージン削減手法の検討
籔内美智太郎小林和淑京都工繊大
プロセスばらつきとBTI (Bias Temperature Instability)の相関を考慮すること
で回路設計... [more]
VLD2014-163
pp.61-66
ICD, CPSY
(共催)
2014-12-02
14:50
東京 機械振興会館 65 nmプロセスにおけるアンテナダメージによる経年劣化の測定と評価
岸田 亮大島 梓小林和淑京都工繊大
近年の集積回路の微細化により,アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている.本稿では,アンテナダメージによる経年劣... [more] ICD2014-106 CPSY2014-118
pp.123-128
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2014-11-26
11:35
大分 ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) 65nm薄膜BOX-SOIとバルクプロセスにおけるSETパルス幅の電圧依存性の評価
曽根崎詠二張 魁元古田 潤小林和淑京都工繊大
近年、プロセスの微細化や高集積化により消費電力の増加が問題になっている。
低消費電力の実現には、低電圧化が最も効果的で... [more]
VLD2014-84 DC2014-38
pp.93-97
ICD, SDM
(共催)
2014-08-04
09:00
北海道 北海道大学 情報教育館(札幌市) [招待講演]A Perpetuum Mobile 32bit CPU with 13.4pJ/cycle, 0.14μA Sleep Current using Reverse-Body-Bias Assisted 65nm SOTB CMOS Technology
Koichiro IshibashiUEC)・Nobuyuki SugiiLEAP)・Kimiyoshi UsamiSIT)・Hideharu AmanoKU)・Kazutoshi KobayashiKIT)・Cong-Kha PhamUEC)・Hideki MakiyamaYoshiki YamamotoHirofumi ShinoharaToshiaki IwamatsuYasuo YamaguchiHidekazu OdaTakumi HasegawaShinobu OkanishiHiroshi YanagitaLEAP
 [more] SDM2014-62 ICD2014-31
pp.1-4
ICD, SDM
(共催)
2014-08-05
14:55
北海道 北海道大学 情報教育館(札幌市) 65nmSOTBプロセスで試作したリングオシレータを用いたアンテナダメージによる初期発振周波数劣化の測定と評価
大島 梓岸田 亮籔内美智太郎小林和淑京都工繊大
近年の集積回路の微細化に伴い, BTIやアンテナダメージの影響が深刻化してい
る。本研究では, 65nm バルク・S... [more]
SDM2014-79 ICD2014-48
pp.93-98
VLD 2014-03-03
13:00
沖縄 沖縄県青年会館 非均質なリングオシレータを用いたランダムテレグラフノイズの特性解析
西村彰平松本高士京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大
近年のLSIの微細化に伴い、ランダムテレグラフノイズが組み合わせ回路の遅延に与える影響が増大している。非均質なリングオシ... [more] VLD2013-134
pp.1-6
VLD 2014-03-03
13:25
沖縄 沖縄県青年会館 CMOSトランジスタのランダム・テレグラフ・ノイズが組合せ回路遅延に及ぼす影響
松本高士京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大
 [more] VLD2013-135
pp.7-12
VLD 2014-03-05
10:25
沖縄 沖縄県青年会館 寄生バイポーラ効果を考慮した多ビットソフトエラーの評価
古田 潤京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大
集積回路の微細化に伴い, 放射線によって記憶素子の保持データが2つ以上同時に反転する
MCU (Multiple Ce... [more]
VLD2013-157
pp.125-130
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