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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2023-01-30
13:10
東京 機械振興会館(B3-1) [招待講演]セル面積極小化に向けたIGZO/Ge/2Si異種チャネル3次元集積型6T SRAMの開発
張 文馨産総研)・余 心仁洪 子杰李 耀仁台湾半導体研究中心)・趙 天生台湾陽明交通大)・王 永和台湾成功大)・前田辰郎産総研SDM2022-79
 [more] SDM2022-79
pp.1-4
SDM 2017-02-06
13:35
東京 東京大学/本郷 [招待講演]モノリシック三次元インバータにおける積層トランジスタの電気的結合とその層間絶縁膜厚依存性
服部淳一福田浩一入沢寿史太田裕之前田辰郎産総研SDM2016-143
モノリシック三次元インバータについて,積み重なったトランジスタの電気的結合が性能に与える影響をTCAD(technolo... [more] SDM2016-143
pp.23-28
SDM, ICD
(共催)
2015-08-24
15:00
熊本 熊本市 [招待講演]低消費電力LSI応用へ向けた高移動度III-V/Ge CMOS技術の最近の進展と課題
入沢寿史産総研)・池田圭司上牟田雄一小田 穣手塚 勉産総研/東芝)・前田辰郎太田裕之遠藤和彦産総研SDM2015-63 ICD2015-32
 [more] SDM2015-63 ICD2015-32
pp.31-36
SDM 2014-01-29
10:25
東京 機械振興会館 [招待講演]MOVPE再成長により形成した(111)B面を有する高移動度三角形状InGaAs-OI nMOSFETs
入沢寿史小田 穣池田圭司守山佳彦三枝栄子W Jevasuwan前田辰郎産総研)・市川 麿長田剛規秦 雅彦住友化学)・宮本恭幸東工大)・手塚 勉産総研SDM2013-137
(111)B面をチャネルとする底辺30 nmの三角形状In0.53Ga0.47As-OI nMOSFETsをSi基板上に... [more] SDM2013-137
pp.9-12
ED 2013-08-09
09:25
富山 富山大学工学部 大会議室 真空アニール法がAl2O3/GaSb MOS界面に与える影響
後藤高寛藤川紗千恵藤代博記東京理科大)・小倉睦郎安田哲二前田辰郎産総研ED2013-45
あらまし MOCVD法を用いてGaAs基板上に低温GaSbバッファー層を挟みGaSb層を成長させた.GaSb/GaAs界... [more] ED2013-45
pp.37-42
SDM 2010-06-22
14:10
東京 東京大学(生産研An棟) High-k/III‐V界面の組成・構造とMIS特性との関係
安田哲二宮田典幸卜部友二石井裕之板谷太郎前田辰郎産総研)・山田 永福原 昇秦 雅彦住友化学)・大竹晃浩物質・材料研究機構)・星井拓也横山正史竹中 充高木信一東大SDM2010-42
ゲート長が10 nm以下となる技術世代において駆動力向上と低消費電力化を可能にする技術としてIII-V族半導体をチャネル... [more] SDM2010-42
pp.49-54
SDM 2007-06-08
15:05
広島 広島大学(学士会館) Ge窒化膜を界面層とするHfO2/Ge MIS構造の特性
前田辰郎森田行則西澤正泰産総研)・高木信一産総研/東大SDM2007-50
 [more] SDM2007-50
pp.101-106
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