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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD | 2011-04-19 15:25 |
兵庫 | 神戸大学 瀧川記念館 | 原子間力顕微鏡を用いたReRAMフィラメントの物性解析 ○依田貴稔・木下健太郎・岸田 悟（鳥取大）・荻原俊弥・岩井秀夫・福島 整・田沼繁夫（物質・材料研究機構）  ICD2011-18 |
[more] | ICD2011-18 pp.99-104 |
| SDM | 2010-12-17 13:20 |
京都 | 京都大学(桂) | ［招待講演］ReRAMの物性評価と基本メモリ特性の制御 ○木下健太郎・依田貴稔・田中隼人・花田明紘・岸田 悟（鳥取大） SDM2010-192 |
[more] | SDM2010-192 pp.39-44 |
| SDM | 2009-12-04 16:50 |
奈良 | 奈良先端大 物質創成科学研究科 | 二次電子像によるC-AFM抵抗書き込み領域識別技術の適用によるReRAM動作機構の解明 ○牧野達也・木下健太郎・土橋一史・依田貴稔・岸田 悟（鳥取大） SDM2009-169 |
NiO膜にC-AFMを用いて高抵抗状態及び低抵抗状態を書き込み, 上部電極に妨げられることなくSEM及びEPMAによる観... [more] | SDM2009-169 pp.93-96 |
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