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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD | 2023-04-10 14:10 |
神奈川 | 川崎市産業振興会館10階第４会議室 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
［招待講演］プロセスインメモリ（PIM）アーキテクチャによる情報検索プロセッサの概要と全文検索プロセッサ ～ インデックスやメタデータなどの前処理の要らない情報検索処理の実現を目指して！ ～ ○井上克己・小高雅則・亀山修一（エイ・オー・テクノロジーズ）・ファン トゥロン トゥック・範 公可（電通大）  ICD2023-5 |
情報検索プロセッサは現在のコンピュータが苦手な情報検索処理を肩代わりするプロセッサである [more] | ICD2023-5 pp.10-13 |
| DC | 2017-02-21 16:35 |
東京 | 機械振興会館 | 三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE ～ アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価 ～ ○亀山修一（愛媛大/富士通）・王 森レイ・高橋 寛（愛媛大） DC2016-83 |
本稿では製品の品質評価のための回路をLSIやボードに組込む設計手法，評価容易化設計（Design for Evaluat... [more] | DC2016-83 pp.53-58 |
| DC | 2016-02-17 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | 三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について ○王 森レイ・香川敬祐（愛媛大）・亀山修一（富士通）・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2015-94 |
[more] | DC2015-94 pp.49-54 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 11:40 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について ○王 森レイ・香川敬祐（愛媛大）・亀山修一（富士通）・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） VLD2015-65 DC2015-61 |
[more] | VLD2015-65 DC2015-61 pp.177-182 |
| DC | 2012-02-13 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 ～ 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察 ～ ○亀山修一（富士通/愛媛大）・馬場雅之（富士通）・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2011-81 |
エレクトロニクス製品の小型高機能化に伴い実装プリント板の高密度化が増々進んでおり，実装不良を容易に検出できるバウンダリス... [more] | DC2011-81 pp.31-35 |
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