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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
MW 2019-12-19
10:30
岐阜 岐阜大学サテライトキャンパス 校正と測定を同時に行うSパラメータ測定の基礎理論
関根敏和高橋康宏岐阜大)・前田 登福井伸治SOKEN)・石川靖之大山 航デンソーMW2019-118
 [more] MW2019-118
pp.1-4
MW 2019-12-19
10:55
岐阜 岐阜大学サテライトキャンパス 再帰的手順に基づくSパラメータの間接測定法
前田 登福井伸治SOKEN)・関根敏和高橋康宏岐阜大MW2019-119
相反多ポート回路の一部のポートを直接測定することなく全Sパラメータを測定する新しい手法を提案している.本方法は,それらの... [more] MW2019-119
pp.5-10
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2018-12-14
10:20
愛知 (株)デンソー 相反回路の少数ポート測定によるSパラメータ間接測定法
前田 登福井伸治SOKEN)・関根敏和高橋康宏岐阜大EMCJ2018-90
相反多ポート回路の多数のポートに既知負荷を接続し,それらの値を変えつつ,残りの少数ポート間のSパラメータを直接測定するこ... [more] EMCJ2018-90
pp.19-23
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2018-12-14
13:40
愛知 (株)デンソー アナログICとその電源ICからなる回路のためのSパラメータ測定法
関根敏和高橋康宏岐阜大)・前田 登福井伸治SOKEN)・石川靖之大山 航デンソーEMCJ2018-92
 [more] EMCJ2018-92
pp.51-56
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2017-12-15
09:20
岐阜 岐阜大学 測定値に内在する固有値関係を利用したSパラメータ間接測定法
前田 登福井伸治SOKEN)・関根敏和高橋康宏岐阜大EMCJ2017-76
 [more] EMCJ2017-76
pp.1-6
CPM 2017-10-04
14:40
東京 機械振興会館 酸化物単結晶基板上に成膜したCr2O3薄膜の結晶性向上のための成長条件探索
榎本 翼福井慎二郎平戸剛志小野寺 巧永田知子山本 寛岩田展幸日大CPM2017-61
r面サファイア及びYAlO3基板上にCr2O3、(Cr0.98Fe0.02)2O3、(Cr0.50Fe0.50)2O3薄... [more] CPM2017-61
pp.11-14
CPM 2017-10-04
15:05
東京 機械振興会館 Co/Pt/Cr2O3単結晶積層膜の結晶構造解析およびホール効果
平戸剛志福井慎二郎榎本 翼小野寺 巧永田知子山本 寛岩田展幸日大CPM2017-62
 [more] CPM2017-62
pp.15-17
CPM 2016-11-18
16:20
石川 金沢工大 扇が丘キャンパス Co/Pt/Cr2O3/Ca0.96Ce0.04MnO3//YAlO3積層膜の結晶構造解析及び電気特性
橋本浩佑隅田貴士福井慎二郎平戸剛志柳原康宏王 春赤澤孝徳小山智之張 琦Huaping Song永田知子山本 寛・○岩田展幸日大CPM2016-67
 [more] CPM2016-67
pp.31-34
CPM 2016-07-22
15:25
愛媛 愛媛大学工学部本館3階会議室 Co/Pt/Cr2O3積層膜における交換バイアス磁場の電場磁場冷却効果
隅田貴士平戸剛志橋本浩佑福井慎二郎柳原康宏永田知子山本 寛・○岩田展幸日大CPM2016-25
 [more] CPM2016-25
pp.5-9
MW 2016-06-24
13:20
岐阜 岐阜大学 伝達係数部分行列による相似変換と合同変換に基づく多ポートSパラメータの間接測定法
前田 登福井伸治日本自動車部品総研)・関根敏和高橋康宏岐阜大MW2016-35
相反多ポート回路のSパラメータを求める一手法を提案する.本方法は,回路の半数のポートに既知負荷の組を接続し,その値を変え... [more] MW2016-35
pp.27-32
EMD, CPM, OME
(共催)
2016-06-17
14:30
東京 機械振興会館 YAlO3(001)基板上でのCr2O3薄膜の成膜条件の最適化および結晶構造解析
橋本浩佑隅田貴士福井慎二郎平戸剛志柳原康宏永田知子山本 寛岩田展幸日大EMD2016-11 CPM2016-18 OME2016-21
 [more] EMD2016-11 CPM2016-18 OME2016-21
pp.19-22
CPM 2015-11-06
15:50
新潟 まちなかキャンパス長岡 表面処理条件の異なるYAlO3(001)基板上に成膜したCr2O3薄膜の結晶構造解析および磁気特性
橋本浩佑隅田貴士福井慎二郎永田知子山本 寛・○岩田展幸日大CPM2015-90
YAlO3(001)基板を5M及び12MのNaOH水溶液でエッチングし、Cr2O3薄膜の表面状態および結晶構造を評価した... [more] CPM2015-90
pp.31-35
EMD, CPM, OME
(共催)
2015-06-19
13:05
東京 機械振興会館 YAlO3(001)基板表面処理条件の違いによるCr2O3薄膜の結晶成長
橋本浩佑隅田貴士林 佑太郎福井慎二郎永田知子山本 寛岩田展幸日大EMD2015-11 CPM2015-21 OME2015-24
 [more] EMD2015-11 CPM2015-21 OME2015-24
pp.1-4
ED, CPM, SDM
(共催)
2015-05-28
17:55
愛知 豊橋技科大VBL棟 サファイア基板上におけるCo/Pt/r面配向Cr2O3積層膜の成膜条件最適化
隅田貴士橋本浩佑福井慎二郎永田知子山本 寛・○岩田展幸日大ED2015-26 CPM2015-11 SDM2015-28
r面配向[Pt/Co]3/Pt/Cr2O3積層膜をDC-RFマグネトロンスパッタ法により作製し、結晶構造解析及び磁気特性... [more] ED2015-26 CPM2015-11 SDM2015-28
pp.51-56
PRMU, CNR
(共催)
2014-02-14
14:00
福岡 福岡大学 照明変化に頑健な特徴量を用いた影モデルによる影の検出
石田修也中部大)・福井真二愛知教大)・岩堀祐之中部大PRMU2013-160 CNR2013-68
 [more] PRMU2013-160 CNR2013-68
pp.153-158
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2013-12-20
10:30
愛知 (株)デンソー 3軸磁界プローブによる車室内のポインティングベクトル計測
深川康弘福井伸治河野秀一小澤達矢日本自動車部品総研EMCJ2013-101
従来,車両の電磁ノイズの伝搬を解明するために,電界,磁界の計測が主に行われていたが,発生源からどのように電磁エネルギーが... [more] EMCJ2013-101
pp.5-8
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2013-12-20
15:50
愛知 (株)デンソー rポート測定による2rポートSパラメータの推定
前田 登福井伸治直井 孝日本自動車部品総研)・市川浩司デンソー)・関根敏和高橋康宏岐阜大EMCJ2013-107
測定によって相反2rポート回路のSパラメータを求める一方法を述べている.すなわち,2rポート回路のr個のポートに既知の負... [more] EMCJ2013-107
pp.55-60
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2013-06-21
14:00
京都 京大 1ポート測定による相反3ポート回路のSパラメータの推定
前田 登福井伸治日本自動車部品総研)・関根敏和高橋康宏岐阜大EMCJ2013-20
測定によって相反3ポート回路のSパラメータを求める一方法を述べている.すなわち,3ポート回路の2つのポートに既知の負荷を... [more] EMCJ2013-20
pp.45-49
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2012-12-14
15:15
岐阜 岐阜大学 2ポート測定による3ポートSパラメータ推定とそのイミュニティ試験系への応用
前田 登福井伸治日本自動車部品総研)・市川浩司櫻井礼彦デンソー)・関根敏和高橋康宏岐阜大EMCJ2012-98
相反3ポート回路のSパラメータを求める一方法を述べている.本方法では,1つのポートに既知の負荷を接続し,残りの2ポート間... [more] EMCJ2012-98
pp.81-85
MI 2012-01-20
11:25
沖縄 那覇市ぶんかテンブス館 [ポスター講演]ヘシアンフィルタを用いた内視鏡画像からのポリープ自動検出
篠原孝幸岩堀祐之中部大)・福井真二愛知教大)・春日井邦夫愛知医科大MI2011-132
 [more] MI2011-132
pp.305-310
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