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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| IT, ISEC, WBS (共催) |
2013-03-08 10:30 |
大阪 | 関西学院大学 大阪梅田キャンパス | 非加工接触型ICカードのレーザー照射によるフォールト攻撃 ○大野 仁・土屋 遊・遠山 毅・岸川 剛・齋藤翔平（横浜国大）・佐々木明彦（森田テック）・佐藤 証（東大）・松本 勉（横浜国大）  IT2012-93 ISEC2012-111 WBS2012-79 |
[more] | IT2012-93 ISEC2012-111 WBS2012-79 pp.195-202 |
| ISEC, LOIS (共催) |
2012-11-21 14:15 |
静岡 | 静岡市産学交流センター | 電磁波照射を用いたフォールト攻撃によるICカードからのAES鍵の抽出 ○土屋 遊・岸川 剛・齋藤翔平・遠山 毅（横浜国大）・佐々木明彦（森田テック）・佐藤 証（東大）・松本 勉（横浜国大） ISEC2012-57 LOIS2012-32 |
暗号モジュールに部分的にフォールトを起こしモジュール内部の暗号鍵を暴くフォールト攻撃は強力な攻撃方法と位置づけられ,フォ... [more] | ISEC2012-57 LOIS2012-32 pp.1-8 |
| IT, ISEC, WBS (共催) |
2012-03-02 14:25 |
神奈川 | 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 | ［招待講演］暗号デバイスへの物理攻撃と防御の実際 ○佐藤 証（産総研） IT2011-74 ISEC2011-101 WBS2011-75 |
暗号の歴史について述べた後，我々の日常生活で利用されている暗号デバイスのアプリケーションを紹介し，物理的な攻撃の実際と対... [more] | IT2011-74 ISEC2011-101 WBS2011-75 p.181 |
| ISEC | 2011-12-14 13:15 |
東京 | 機械振興会館 | 国際会議 CHES 2011 報告 ○伊豆哲也（富士通研）・猪俣敦夫（奈良先端大）・桶屋勝幸（ルネサス エレクトロニクス）・川端 健・駒野雄一（東芝）・﨑山一男（電通大）・酒見由美（富士通研）・佐藤 証（産総研）・須賀祐治（インターネットイニシアティブ）・高木 剛（九大）・高橋順子（NTT）・角尾幸保（NEC）・盛合志帆（ソニー）・堀 洋平（産総研）・本間尚文（東北大） ISEC2011-65 |
2011年9月28日から10月1日の日程で, 奈良県の東大寺総合文化センターにて開催された2011年の暗号ハードウェアと... [more] | ISEC2011-65 pp.21-24 |
| RECONF | 2011-05-13 11:35 |
北海道 | 北海道大学工学部Ｂ３棟 | Virtex-5上の動的部分再構成暗号回路の消費電力評価 ○堀 洋平・片下敏宏・佐藤 証（産総研） RECONF2011-17 |
[more] | RECONF2011-17 pp.97-102 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-12-01 10:10 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 近磁界測定によるサイドチャネル評価実験 片下敏宏・○堀 洋平・佐藤 証（産総研） RECONF2010-46 |
暗号を実装したデバイスの発生する消費電力や電磁波を計測し，内部の秘密情報を非破壊的に解析するサイドチャネル攻撃と呼ばれる... [more] | RECONF2010-46 pp.43-48 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-12-01 11:05 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 確率密度関数の推定法とMIA成功率に関する一考察 ○堀 洋平（産総研）・吉田隆弘（青学大）・片下敏宏・佐藤 証（産総研） RECONF2010-48 |
AES暗号モジュールの動作時の電圧の確率密度関数を様々な方法で推定し，それ らを用いた相互情報量解析攻撃(Mutua... [more] |
RECONF2010-48 pp.55-60 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-12-01 11:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | シフト事後処理を用いたPUF基盤認証システムの精度評価 姜 玄浩・○堀 洋平・片下敏宏・佐藤 証（産総研） RECONF2010-49 |
PUF (Physical Unclonable Function)は，デバイスの物理的な特徴を抽出しデバイス固有の値を... [more] | RECONF2010-49 pp.61-64 |
| RECONF | 2010-09-17 13:15 |
静岡 | 静岡大学(工学部2号館) | FPGA上のArbiter PUFの定量的性能評価 ○堀 洋平（産総研）・吉田隆弘（中大）・片下敏宏・佐藤 証（産総研） RECONF2010-37 |
Physical Unclonable Function (PUF) の性能の定量的評価指標---Randomness,... [more] | RECONF2010-37 pp.115-120 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-03 15:40 |
高知 | 高知市文化プラザ | サイドチャネル攻撃対策手法の評価環境の構築 片下敏宏（産総研）・○堀 洋平（中大）・佐藤 証（産総研） RECONF2009-46 |
安全性が理論的に検証された暗号アルゴリズムであっても，実装の不備を突く物理的な攻撃によって秘密情報が漏洩する危険性がある... [more] | RECONF2009-46 pp.31-36 |
| EMCJ, ITE-BCT (共催) |
2009-03-13 14:05 |
東京 | 機械振興会館 | オンチップ集積化マイクロ磁界プローブを用いた暗号LSIの近傍磁界計測 ○鳥塚英樹・山口正洋・菅原 健・本間尚文（東北大）・佐藤 証（産総研）・青木孝文（東北大） EMCJ2008-120 |
暗号モジュールからの漏洩電磁波や消費電力を利用し，暗号解読を行うサイドチャネル攻撃の危険性が指摘されている．本研究では，... [more] | EMCJ2008-120 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-18 15:20 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | サイドチャネル攻撃に対する標準評価ボードとツールの開発 ○堀 洋平・片下敏宏・坂根広史・戸田賢二・佐藤 証（産総研）・今井秀樹（中大） RECONF2008-54 |
近年，暗号モジュールの電力波形や電磁波などから内部の情報を暴露する新たな物理攻撃であるサイドチャネル攻撃が登場しており，... [more] | RECONF2008-54 pp.87-92 |
| RECONF | 2008-05-22 13:50 |
福島 | 会津大学 | 部分再構成システムにおけるAES-GCMを用いたビットストリームの秘匿と認証 ○堀 洋平・佐藤 証・坂根広史・戸田賢二（産総研） RECONF2008-3 |
AES-GCMを用いてFPGAのビットストリームの秘匿と検証を同時に行うことで，安全に動的部分再構成を行うシステムを実現... [more] | RECONF2008-3 pp.13-18 |
| IT, ISEC, WBS (共催) |
2007-03-16 14:15 |
群馬 | 群馬大学（桐生キャンパス） | ISO標準ブロック暗号のASICハードウェア性能評価 ○菅原 健・本間尚文・青木孝文（東北大）・佐藤 証（日本IBM） |
[more] | IT2006-104 ISEC2006-159 WBS2006-101 pp.111-117 |
| ISEC | 2006-05-19 13:25 |
東京 | 機械振興会館 | ブロック暗号のマスク対策付FPGA実装に対するビット遷移に着目したDPAの適用 ○高橋芳夫（NTTデータ/横浜国大）・松本 勉（横浜国大）・佐藤 証（日本IBM） |
[more] | ISEC2006-1 pp.1-6 |
| WBS, IT, ISEC (共催) |
2006-03-16 11:35 |
愛知 | 名古屋大学（東山キャンパスIB電子情報館） | 位相限定相関法に基づく高精度波形解析とそのサイドチャネル攻撃への応用 ○今井裕一・本間尚文・長嶋 聖・青木孝文（東北大）・佐藤 証（日本IBM） |
本稿では，位相限定相関法を用いた高精度な波形位置あわせ手法とそのサイドチャネル攻撃への応用について述べる．一般にSPAや... [more] | IT2005-81 ISEC2005-138 WBS2005-95 pp.97-103 |
| ISEC | 2005-12-16 11:05 |
東京 | 機械振興会館 | ブロック暗号のFPGA実装に対するサイドチャネル攻撃 高橋芳夫（NTTデータ）・佐藤 証（日本IBM）・○梅田伸明（NTTデータ） |
[more] | ISEC2005-111 pp.5-10 |
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