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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| BioX (第二種研究会) |
2012-08-28 14:00 |
東京 | 早稲田大学 西早稲田キャンパス | WolfとLambに対する安全性と最適性を持つ融合判定の理論的考察 ○村上隆夫・高橋健太（日立）・松浦幹太（東大） |
生体認証において，数多くのユーザに対して高い類似度スコアを実現する認証ユーザ，登録ユーザはそれぞれWolf，Lambと呼... [more] | |
| PRMU, MVE (共催) IPSJ-CVIM (連催) [詳細] |
2011-01-21 09:25 |
滋賀 | 立命館大学 びわこ・くさつキャンパス | Gaussian Processesを用いたプラントの異常及びその予兆の検出 ○尾崎晋作・和田俊和（和歌山大）・前田俊二・渋谷久恵（日立）  PRMU2010-175 MVE2010-100 |
本報告では，プラントに取り付けたセンサの出力（センサ情報）をもとにして，異常やその兆候を検出する手法を提案する．センサ情... [more] | PRMU2010-175 MVE2010-100 pp.211-216 |
| EMCJ | 2010-01-22 09:05 |
沖縄 | 琉球大学50周年記念館 | 電子ビーム静電偏向システムの低ノイズ方式設計 ○李 ウェン・幕内雅巳・今川健吾（日立）・高橋弘之・大南祐介・郡司康弘（日立ハイテクノロジーズ） EMCJ2009-111 |
電子やイオン等の荷電粒子ビームを用いた半導体製造・検査・計測装置および電子顕微鏡等の分析装置では，高速・高精度なビーム偏... [more] | EMCJ2009-111 pp.75-80 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-03 10:00 |
高知 | 高知市文化プラザ | 情報システム装置の中性子照射試験とフィールドエラーとの相関 ○新保健一・鳥羽忠信・伊部英史・西井浩士（日立） CPM2009-143 ICD2009-72 |
中性子照射試験により情報システム装置のソフトエラー耐性評価を行った．メモリ構成の異なる２台の装置のソフトエラー比について... [more] | CPM2009-143 ICD2009-72 pp.51-55 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-27 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | ＬＳＩ断線箇所診断手法 ○小宮泰麿・菊地修司（日立）・嶋瀬 朗・向川一也（ルネサステクノロジ） |
近年の微細化や高集積化に伴い、LSIの断線不良箇所特定を目的に、LSIに変動電界を印加してオープンゲートを活性化し、発生... [more] | CPM2004-155 ICD2004-200 pp.1-6 |
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