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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
EST, MW, OPE, MWP, EMT
(共催)
IEE-EMT, THz
(連催) [詳細]
2018-07-20
09:15
北海道 洞爺観光ホテル エピタキシャル(Pb,La)(Zr,Ti)O3 (PLZT)薄膜を用いた高速光変調器
阿部峻佑原 英生増田 伸君島正幸アドバンテスト研
光通信の分野においてLiNbO3(LN)を用いた光変調器が主流であるが、素子の小型化は難しく、集積化に適した新材料による... [more] EMT2018-33 MW2018-48 OPE2018-36 EST2018-31 MWP2018-32
pp.143-148
ICD, CPSY, CAS
(共催)
2017-12-14
10:40
沖縄 アートホテル石垣島 統計的コンパレータを用いたレベルクロス検出手法の性能解析
杉山泰基飯塚哲也東大)・山口隆弘アドバンテスト研)・名倉 徹浅田邦博東大
レベルクロス検出手法にもとづくADCでは電圧ではなく時間を量子化する。クロック周波数を2倍としたとき、通常のADCではS... [more] CAS2017-66 ICD2017-54 CPSY2017-63
pp.15-20
MW, EMCJ, EST
(共催)
IEE-EMC
(連催) [詳細]
2017-10-19
13:55
秋田 あきた芸術村 温泉ゆぽぽ バンケットホール紫苑 MMIC裏面ニッケル層がビアホール周波数特性に与える影響についての考察
対馬孝弘君島正幸アドバンテスト研
MMIC (Microwave Monolithic Integrated Circuit) やPCB (Printed... [more] EMCJ2017-33 MW2017-85 EST2017-48
pp.41-44
MW, ED
(共催)
2015-01-16
09:35
東京 機械振興会館 低リークTaONパッシベーションGaN HEMTを用いたRFテスタ用10MHz-12GHz帯超高速低歪みSP4Tスイッチ
君島正幸小山 慧大西将夫アドバンテスト
低ゲートリークTaONパッシベーションGaN ショットキーHEMTプロセスを用いたRFテスタフロントエンド用10MHz~... [more] ED2014-125 MW2014-189
pp.47-51
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2014-11-28
15:35
大分 ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) [招待講演]30Gb/s光LSIの量産試験向けテスト手法の提案
渡邊大輔増田 伸アドバンテスト
クラウドコンピューティングの急成長により、データセンタ内部のトラフィックが指数的に増大しており、シリコンフォトニクス技術... [more] CPM2014-129 ICD2014-72
pp.39-42
ICD 2005-05-27
16:10
兵庫 神戸大学 リファレンスクロックを必要としないプログラム可能なオンチップジッタ測定回路
一山清隆石田雅裕山口隆弘アドバンテスト)・マニ ソーマワシントン大)・須田昌克岡安俊幸渡邊大輔山本和弘アドバンテスト
リファレンスクロックを必要としない新しいオンチップジッタ測定回路を提案する.提案回路は,可変遅延回路,インターリーブ方式... [more] ICD2005-38
pp.57-60
IE, SIP, ICD, IPSJ-SLDM
(共催)
2004-10-22
10:10
山形 米沢市・伝国の杜(もり)会議室 動的再構成ALUを搭載した画像認識プロセッサ
宮本直人小谷光司東北大)・丸尾和幸アドバンテスト)・大見忠弘東北大
位相限定相関(POC)アルゴリズムを実装した画像認識プロセッサを開発した。このプロセッサに搭載されるALUは動的に再構成... [more] SIP2004-91 ICD2004-123 IE2004-67
pp.13-18
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