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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ED, SDM
(共催)
2010-07-02
10:10
東京 東工大 大岡山キャンパス [招待講演]InAlN/GaN HEMT Structures on 4-in Silicon Grown by MOCVD
Makoto MiyoshiShigeaki SumiyaMikiya IchimuraTomohiko SugiyamaSota MaeharaMitsuhiro TanakaNGK)・Takashi EgawaNagoya Inst. of Tech.ED2010-105 SDM2010-106
 [more] ED2010-105 SDM2010-106
pp.241-244
SDM, CPM, ED
(共催)
2010-05-13
13:30
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) DLTS法によるSi(111)基板上n-GaN中の深い準位の測定
渡邉 新江川孝志名工大ED2010-17 CPM2010-7 SDM2010-17
 [more] ED2010-17 CPM2010-7 SDM2010-17
pp.1-4
SDM, CPM, ED
(共催)
2010-05-13
13:55
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) Si基板上p-InGaN/AlGaN/GaN HEMTのノーマリオフ特性
永井一弘ローレンス セルバラージ江川孝志名工大ED2010-18 CPM2010-8 SDM2010-18
 [more] ED2010-18 CPM2010-8 SDM2010-18
pp.5-9
ED, LQE, CPM
(共催)
2009-11-20
10:20
徳島 徳島大学(常三島キャンパス・工業会館) 4inch径Si基板上に作製した四元混晶InAlGaN/GaN HEMTエピ構造の特性評価
市村幹也三好実人田中光浩日本ガイシ)・江川孝志名工大ED2009-149 CPM2009-123 LQE2009-128
格子長とバンドギャップの独立制御が可能な四元混晶を障壁層とするInAlGaN/GaN HEMT構造のMOCVD成長および... [more] ED2009-149 CPM2009-123 LQE2009-128
pp.99-103
ED, LQE, CPM
(共催)
2009-11-20
14:00
徳島 徳島大学(常三島キャンパス・工業会館) Si基板上AlGaN/GaN HEMTの高耐圧化
鈴江隆晃ローレンス セルバラージ江川孝志名工大ED2009-155 CPM2009-129 LQE2009-134
Si基板上AlGaN/GaN HEMTについて厚膜サンプルの特性評価を行った。耐圧測定を行ったところ、成長層膜厚の増加に... [more] ED2009-155 CPM2009-129 LQE2009-134
pp.129-132
ED, LQE, CPM
(共催)
2009-11-20
15:00
徳島 徳島大学(常三島キャンパス・工業会館) Si基板上GaN-HEMTによる5GHz50W出力電力特性
星 真一伊藤正紀丸井俊治大来英之森野芳昭玉井 功戸田典彦関 昇平OKI)・江川孝志名工大ED2009-157 CPM2009-131 LQE2009-136
シリコン基板上GaN-HEMTを用いた高周波高出力電力増幅デバイスについて検討した。デバイスの高周波化を妨げるGaNエピ... [more] ED2009-157 CPM2009-131 LQE2009-136
pp.139-144
LQE, ED, CPM
(共催)
2008-11-28
14:20
愛知 名古屋工業大学 Si(111)基板上AlGaN/GaN HEMT構造の多層膜構造検討による厚膜化
鈴江隆晃鈴木暢倫野村幸靖江川孝志名工大ED2008-179 CPM2008-128 LQE2008-123
 [more] ED2008-179 CPM2008-128 LQE2008-123
pp.137-140
ED 2008-10-23
13:25
福岡 九州工業大学 低温成長GaNキャップ層エッジターミネーションを用いたシリコン基板上の高耐圧AlGaN/GaNショットキーバリアダイオード
鎌田 厚新日本無線)・江川孝志名工大ED2008-149
 [more] ED2008-149
pp.143-148
SDM, ED
(共催)
2008-07-09
11:40
北海道 かでる2・7(札幌) [招待講演]AlGaN/GaN-based Electron Devices with Low-temperature GaN Cap Layer
Tadayoshi DeguchiNew Japan Radio)・Takashi EgawaNagoya Inst. of Tech.ED2008-41 SDM2008-60
 [more] ED2008-41 SDM2008-60
pp.9-14
CPM, ED, LQE
(共催)
2007-10-12
10:15
福井 福井大学 4インチSi(111)基板上AlGaN/GaN HEMT構造の厚膜化検討
寺田 豊鈴江隆晃石川博康江川孝志名工大ED2007-168 CPM2007-94 LQE2007-69
 [more] ED2007-168 CPM2007-94 LQE2007-69
pp.63-66
ED, CPM, LQE
(共催)
2006-10-05
13:50
京都 京都大学 Si基板上に作製したAlGaN/GaN-HEMTの高周波特性
大来英之見田充郎佐野芳明丸井俊治伊藤正紀星 真一戸田典彦関 昇平OKI)・江川孝志名工大
 [more] ED2006-154 CPM2006-91 LQE2006-58
pp.13-18
ED, CPM, LQE
(共催)
2006-10-05
14:15
京都 京都大学 SiC基板上AlGaN/GaN HEMTの結晶成長に関する研究
岩崎天彦石川博康江川孝志名工大
AlGaN/GaN HEMTは次世代の高出力・高周波デバイスとして期待されている。今回、電子移動度の向上を目的としMOC... [more] ED2006-155 CPM2006-92 LQE2006-59
pp.19-22
ED, MW
(共催)
2006-01-19
11:35
東京 機械振興会館 格子整合系六方晶InAlGaN四元混晶の禁制帯幅とボウイング定数
瀧澤俊幸中澤敏志上田哲三田中 毅松下電器)・江川孝志名工大
 [more] ED2005-202 MW2005-156
pp.17-21
ED, MW
(共催)
2006-01-19
13:20
東京 機械振興会館 低温成長GaNキャップ層を用いたAlGaN/GaN HFET
出口忠義脇 英司小野 悟山下明一鎌田 厚中川 敦新日本無線)・石川博康江川孝志名工大
半絶縁性の低温成長GaN(LT-GaN)キャップ層を有するAlGaN/GaN へテロ接合トランジスタ(LT-GaN/Al... [more] ED2005-203 MW2005-157
pp.23-27
ED, MW
(共催)
2006-01-19
13:45
東京 機械振興会館 リセスオーミック電極を用いたSi基板上のAlGaN/GaN-HEMT
見田充郎海部勝晶伊藤正紀佐野芳明OKI)・石川博康江川孝志名工大
 [more] ED2005-204 MW2005-158
pp.29-34
LQE, ED, CPM
(共催)
2005-10-13
14:50
滋賀 立命館大学 GaNに格子整合するInAlGaN 4元混晶キャップ層を用いたAlGaN/GaN ヘテロ接合トランジスタ
中澤敏志上田哲三井上 薫田中 毅松下電器)・石川博康江川孝志名工大
 [more] ED2005-130 CPM2005-117 LQE2005-57
pp.57-61
LQE, ED, CPM
(共催)
2005-10-13
15:10
滋賀 立命館大学 Si(111)基板上AlGaN/GaN HEMTの特性評価
片山義章石川博康江川孝志名工大
 [more] ED2005-131 CPM2005-118 LQE2005-58
pp.63-66
MW, ED
(共催)
2005-01-18
09:20
東京 機械振興会館 ソースビア接地構造を用いたSi基板上350V/150A AlGaN/GaNパワーHFET
引田正洋柳原 学中澤一志上野弘明廣瀬 裕上田哲三上本康裕田中 毅上田大助松下電器)・江川孝志名工大
AlGaN/GaN HFETをパワースイッチングデバイスに応用するためには、デバイスの低オン抵抗化と高耐圧化の両立、およ... [more] ED2004-212 MW2004-219
pp.1-5
MW, ED
(共催)
2005-01-18
10:45
東京 機械振興会館 高出力AlGaN/GaN-HEMTにおける熱設計の検討
伊藤正紀海部勝晶見田充郎大来英之戸田典彦佐野芳明関 昇平OKI)・石川博康江川孝志名工大
 [more] ED2004-215 MW2004-222
pp.19-24
MW, ED
(共催)
2005-01-18
11:35
東京 機械振興会館 100mm径エピタキシャルAlN/サファイアテンプレート上に作製したリセスオーミックAlGaN/AlN/GaN HEMT
三好実人名工大/日本ガイシ)・今西 敦石川博康江川孝志名工大)・浅井圭一郎柴田智彦田中光浩小田 修日本ガイシ
100mm径エピタキシャルAlN/サファイア上へのAl0.26Ga0.74N/AlN/GaNヘテロ構造のMOVPE成長を... [more] ED2004-217 MW2004-224
pp.31-35
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