研究会 |
発表日時 |
開催地 |
タイトル・著者 |
抄録 |
資料番号 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 09:00 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
ランダムばらつきが低減されたプロセスにおける超低電圧条件下でのSTIストレス効果と逆狭チャネル効果による閾値ばらつきの実測 ○小笠原泰弘・小池帆平(産総研) CPM2016-76 ICD2016-37 IE2016-71 |
本論文では超低電圧下におけるレイアウト依存性効果に起因する閾値変動効果の影響を実測より示す。65nm SOTB CMOS... [more] |
CPM2016-76 ICD2016-37 IE2016-71 pp.1-6 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 09:25 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
半導体ストレージシステムにおけるSCM, MLC/TLC NANDフラッシュメモリの最適な構成の設計 ○松井千尋・山賀祐典・杉山佑輔・竹内 健(中大) CPM2016-77 ICD2016-38 IE2016-72 |
さまざまな種類のデータを高速に処理するために,ストレージクラスメモリ(SCM),multi-level cell (ML... [more] |
CPM2016-77 ICD2016-38 IE2016-72 pp.7-10 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 09:50 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
TSVを用いた三次元実装LSIの電源配線におけるEMI特性 ○荒賀佑樹(産総研)・永田 真・三浦典之・池田博明(神戸大)・菊地克弥(産総研) CPM2016-78 ICD2016-39 IE2016-73 |
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CPM2016-78 ICD2016-39 IE2016-73 pp.11-16 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 10:30 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
ディープラーニングを用いたリソグラフィシミュレーションモデルの高精度化 ○渡辺友希・松縄哲明・木村泰己・野嶋茂樹(東芝) VLD2016-56 DC2016-50 |
微細な半導体パターンを製造するにあたり,リソグラフィシミュレーションは必要不可欠な技術となっている.高精度なシミュレーシ... [more] |
VLD2016-56 DC2016-50 pp.73-78 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 10:55 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
集合対間配線問題のための配線の付け替えによる配線長差最小化手法 ○原 秀太郎・藤吉邦洋(東京農工大) VLD2016-57 DC2016-51 |
集合対間配線問題はプリント基板の設計などで生じる配線問題で、
最長の配線と最短の配線の
長さの差(配線長差)を最小化... [more] |
VLD2016-57 DC2016-51 pp.79-84 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 11:20 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
カットプロセスを前提としたSelf-Aligned Double Patterningのための2色グリッドに準じた配線手法 ○三浦発彦・長谷川 充・藤吉邦洋(東京農工大) VLD2016-58 DC2016-52 |
高密度なLSI製造のため、光リソグラフィの露光限界を超えて微細な加工を行なう技術の1つにSelf-Aligned Dou... [more] |
VLD2016-58 DC2016-52 pp.85-90 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 10:30 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
[招待講演]SOI基板の直接接合を用いた画素並列信号処理3次元構造CMOSイメージセンサの開発 ○後藤正英・本田悠葵・渡部俊久・萩原 啓・難波正和・井口義則(NHK)・更屋拓哉・小林正治・日暮栄治・年吉 洋・平本俊郎(東大) CPM2016-79 ICD2016-40 IE2016-74 |
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CPM2016-79 ICD2016-40 IE2016-74 pp.17-21 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 10:55 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
[招待講演]IoT時代におけるエッジデバイスのインテリジェント化を支える脳型デバイスの重要性 ○折井靖光(長瀬産業) |
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VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 13:00 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
[招待講演]ソフトウェアエンジニアと高位合成 ○満田賢一郎・大和田浩司・山本真司(ISP) RECONF2016-48 |
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RECONF2016-48 p.47 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 13:15 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
[招待講演]超大規模超高速画像表示技術と応用展開 ~ 画像ビッグデータの応用 ~ ○川瀬英路(カミエンス) CPM2016-80 ICD2016-41 IE2016-75 |
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CPM2016-80 ICD2016-41 IE2016-75 p.23 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 14:40 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
[基調講演]IoT時代に向け組合せ最適化問題を効率的に解くCMOSアニーリングマシン ○山岡雅直(日立) VLD2016-59 CPM2016-81 ICD2016-42 IE2016-76 CPSY2016-52 DC2016-53 RECONF2016-49 |
組合せ最適化問題を効率よく解くアーキテクチャとしてイジングモデルを用いたCMOSアニーリングマシンを提案した。CMOSア... [more] |
VLD2016-59 CPM2016-81 ICD2016-42 IE2016-76 CPSY2016-52 DC2016-53 RECONF2016-49 pp.91-96(VLD), pp.25-30(CPM), pp.25-30(ICD), pp.25-30(IE), pp.27-32(CPSY), pp.91-96(DC), pp.49-54(RECONF) |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 15:45 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
[基調講演]デジタル映像の符号化技術・伝送装置の開発とハイビジョン化への貢献 ○中川 章(富士通研) VLD2016-60 CPM2016-82 ICD2016-43 IE2016-77 CPSY2016-53 DC2016-54 RECONF2016-50 |
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VLD2016-60 CPM2016-82 ICD2016-43 IE2016-77 CPSY2016-53 DC2016-54 RECONF2016-50 p.97(VLD), p.31(CPM), p.31(ICD), p.31(IE), p.33(CPSY), p.97(DC), p.55(RECONF) |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-29 16:45 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
[基調講演]データマイニング技術と応用 ~ グラフマイニングと探索的データ分析 ~ ○鬼塚 真(阪大) |
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VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 09:00 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
重み付き故障カバレージに基づくテストパターン並替えの高速化手法 ○犬山慎吾・岩崎一彦(首都大東京)・新井雅之(日大) VLD2016-61 DC2016-55 |
半導体製造技術の微細化,高集積化に伴い,欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値の乖離が問題となっている.著者らは,ク... [more] |
VLD2016-61 DC2016-55 pp.99-104 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 09:25 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について ○河塚信吾・四柳浩之・橋爪正樹(徳島大) VLD2016-62 DC2016-56 |
半導体製造技術の向上により,回路の遅延時間がわずかにシフトする微小遅延故障がタイミング不良として顕在化している.
微小... [more] |
VLD2016-62 DC2016-56 pp.105-110 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 09:50 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
SATソルバを用いた信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタン生成手法について ○松永裕介(九大) VLD2016-63 DC2016-57 |
本稿では信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタンを生成する
SATソルバを用いた手法について考察を行う.
... [more] |
VLD2016-63 DC2016-57 pp.111-115 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 10:15 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
オンチップ故障診断のためのLFSRシード生成法 ○南薗隼人・大竹哲史(大分大) VLD2016-64 DC2016-58 |
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VLD2016-64 DC2016-58 pp.117-122 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 09:00 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
オンチップボディバイアス調節機構アーキテクチャの提案と実装 ○奥原 颯・Akram Ben Ahmed・天野英晴(慶大) CPSY2016-54 |
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CPSY2016-54 pp.35-40 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 09:25 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
内部抵抗の大きい電源に対応するボディバイアス制御手法 ○天野英晴・増山滉一朗・奥原 颯・畔上佳太(慶大) CPSY2016-55 |
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CPSY2016-55 pp.41-46 |
VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 10:15 |
大阪 |
立命館大学大阪いばらきキャンパス |
リモートGPUを用いたグラフ処理におけるGPU間同期手法の検討 ○森島 信・松谷宏紀(慶大) CPSY2016-56 |
近年、SNSの普及や、情報通信技術の発展により、大規模グラフが生成され、それらの処理に対する需要が高まっている。
グラ... [more] |
CPSY2016-56 pp.53-58 |