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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SSS 2013-05-23
16:20
東京 機械振興会館 機能安全規格と技術進歩
田代維史交通安全環境研)・○中村英夫日大SSS2013-6
IEC61508の機能安全規格が産業界で普及しつつある。機能安全は,プロセスを通じた安全性立証を旨として万人が認め得る安... [more] SSS2013-6
pp.21-24
SSS 2012-12-20
13:00
京都 京都高度技術研究所 食品機械の安全設計 ~ 新潟県プロジェクトで開発した高圧処理装置の安全性の検討経緯について ~
福田隆文長岡技科大)・藤井淳平NICO)・伊藤広貴長岡技科大SSS2012-22
食品に高圧を印加することで付加価値を高めることができるが,装置が大型で高価であった.そこで,10リットル 400MPa印... [more] SSS2012-22
pp.1-4
OME 2012-05-24
14:00
東京 NTT武蔵野研究開発センター 有機薄膜光電変換素子のための水分散有機半導体コロイドを用いた静電塗布(ESD)技術
青山哲也高久英明朱 正明理研)・松鷹 宏FLOX)・折井孝彰山形 豊田島右副理研OME2012-22
有機半導体材料ポリチオフェン(P3HT)をコロイド化して水溶性有機半導体インクを調製し,静電塗布(ESD)法でP3HT薄... [more] OME2012-22
pp.17-20
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-30
10:55
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察
柏崎智史細川利典日大)・吉村正義九大VLD2011-85 DC2011-61
近年,製造テストで正常VLSIと判定されるが,出荷後の使用環境で経年劣化の結果,出荷時の遅延時間に対して微小な遅延が発生... [more] VLD2011-85 DC2011-61
pp.191-195
DC 2011-06-24
14:00
東京 機械振興会館 VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択結果における一考察
柏崎智史細川利典日大)・吉村正義九大DC2011-10
近年,製造テストで正常VLSIと判定されるが,出荷後の使用環境で経年劣化の結果,出荷時の遅延時間に対して微小な遅延が発生... [more] DC2011-10
pp.11-16
DC 2011-02-14
11:00
東京 機械振興会館 製造ばらつきを考慮したフィールドテストのためのクリティカルパス解析
柏崎智史細川利典日大)・吉村正義九大DC2010-61
近年,製造テストで正常VLSIと判定され,出荷後のフィールド上で経年劣化の結果微小な遅延が発生し,不良VLSIとなるもの... [more] DC2010-61
pp.13-19
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2010-12-01
11:25
福岡 九州大学医学部百年講堂 シフト事後処理を用いたPUF基盤認証システムの精度評価
姜 玄浩・○堀 洋平片下敏宏佐藤 証産総研RECONF2010-49
PUF (Physical Unclonable Function)は,デバイスの物理的な特徴を抽出しデバイス固有の値を... [more] RECONF2010-49
pp.61-64
MW 2007-12-18
15:50
福井 福井大 ミリング加工に適した平面型ブランチライン偏波分離器
安藤浩哉柳 智子後野昭次塚本武彦杉浦藤虎豊田高専MW2007-135
導波管の0dBブランチラインカプラを構成要素とする偏波分離器(Orthomode Transducer =OMT)を考案... [more] MW2007-135
pp.47-51
RECONF 2005-09-16
10:00
広島 国民宿舎 みやじま 杜の宿 遺伝的手法による再構成型格子結合プロセッサの縮退再構成方式
福島裕介福士 将堀口 進東北大
近年のVLSI技術の進歩により,チップやウェーハ上に複数のプロセッサを接続
した大規模並列システムを実装することが可能... [more]
RECONF2005-43
pp.13-18
KBSE 2005-09-12
13:40
東京 機械振興会館 RFID情報システムによる生産プロセスの可視化
斎藤 忍高橋成文山本修一郎NTTデータ
本稿では,製造業における生産プロセスを取り上げ,RFID導入の着眼点として,「可視化」と「改善」の2つを提案し考察してい... [more] KBSE2005-19
pp.19-24
KBSE 2005-05-16
14:40
東京 機械振興会館 生産プロセスの局所的状態図を利用したデータモデル獲得法
熊谷 敏武蔵工大)・廣田豊彦九州産大
生産や加工のプロセスを支援する情報システムは,処理される物に関する知識や情報と密接に関連する.同一物に対しても,それを捉... [more] KBSE2005-3
pp.13-18
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