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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMD | 2012-01-20 14:50 |
神奈川 | レンタルホール湘南平塚 | 定在波同軸管を用いたプリント基板の非接触PIM特性評価 ○星野啓太・石橋大二郎・齋藤健介・久我宣裕（横浜国大）  EMD2011-115 |
本研究では，低PIM試料の評価に有効な定在波同軸管法を用いて，プリント基板の非接触PIM特性評価を行っている． まず評... [more] |
EMD2011-115 pp.19-24 |
| AP | 2012-01-20 16:30 |
福岡 | 九州工業大学 | リッジ導波管リッジ面上に構成されたT型スロットアンテナ ○三原誠太郎・久我宣裕（横浜国大） AP2011-184 |
誘電体を用いずに直線偏波の広壁面導波管スロットアンテナを小型化するために，リッジ導波管リッジ面に構成するT型スロットアン... [more] | AP2011-184 pp.215-220 |
| ACT (第二種研究会) |
2011-12-22 15:30 |
沖縄 | 沖縄県立博物館・美術館 | アンテナシステムにおける相互変調ひずみ測定 ○久我宣裕（横浜国大） |
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| EMD | 2011-12-16 14:30 |
東京 | 日本工業大学 神田キャンパス | 同軸管を用いた相互変調ひずみ測定に対する送信波整合状態の影響評価 ○齋藤健介・星野啓太・久我宣裕・石橋大二郎（横浜国大） EMD2011-109 |
本稿では，定在波同軸管を用いた高周波材料の相互変調ひずみ特性評価法について，送信波の整合状態と測定結果の関連に関する考察... [more] | EMD2011-109 pp.17-22 |
| EMD | 2011-11-18 11:50 |
秋田 | 秋田大学 手形キャンパス | Sample-Shape to Avoid Self-Heating Effect in PIM measurements \\using the standing wave coaxial tube method ○Keita Hoshino・Daijiro Ishibashi・Nobuhiro Kuga（Yokohama National Univ.） |
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| EMD | 2011-11-18 12:10 |
秋田 | 秋田大学 手形キャンパス | Simulation Method of Passive Intermodulation caused by a Short Source in Standing Wave ○Daijiro Ishibashi・Keita Hoshino・Nobuhiro Kuga（Yokohama National Univ.） EMD2011-96 |
[more] | EMD2011-96 pp.155-159 |
| EMD, EMCJ (共催) |
2011-07-15 12:45 |
東京 | 機械振興会館 | タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(3) ～ 和田真一・○越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・竹田弘毅・石塚大貴・柳 国男・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（日本工大） EMCJ2011-62 EMD2011-21 |
著者らは，専用のステージが必要なく，また，ある程度の定量性をもつ，ハンディな“タッピング・デバイス(TPD)”を開発し試... [more] | EMCJ2011-62 EMD2011-21 pp.7-12 |
| EMD | 2011-01-28 15:40 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(1) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳 国男・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-141 |
著者らは，ハンマリング加振機構(HOM)，摺動接触機構(SCM)，および３次元加振機構(3DOM)によって外部微小振動が... [more] | EMD2010-141 pp.35-40 |
| EMD | 2011-01-28 16:05 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(2) ～ ○越田圭治・和田真一・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-142 |
著者らは，専用のステージが必要なく，また，ある程度の定量性をもつ，ハンディな"タッピング・デバイス(TPD)"を開発し試... [more] | EMD2010-142 pp.41-46 |
| AP | 2011-01-21 16:10 |
佐賀 | 佐賀大学 | ダイオード付き円板モノポールアンテナの相互変調ひずみ特性 ○入江健治・久我宣裕（横浜国大）・長 敬三（NTTドコモ） AP2010-161 |
[more] | AP2010-161 pp.165-169 |
| EMD | 2010-12-17 14:55 |
東京 | 玉川大学 | 定印加力を有するタッピングデバイスを用いた高周波同軸コネクタの振動特性評価 ○富菜将基・石橋大二郎・久我宣裕（横浜国大） EMD2010-133 |
パネルに実装されたケーブル付き小型コネクタで発生する相互変調ひずみ(PIM)特性を，10Nの定印加力を実現するタッピング... [more] | EMD2010-133 pp.23-27 |
| EMD | 2010-12-17 15:20 |
東京 | 玉川大学 | 相互変調ひずみ源の消費電力から見た整合法・不整合法PIM測定の相関に関する考察 ○吉田 翔・石橋大二郎・久我宣裕（横浜国大） EMD2010-134 |
不整合法を用いたPIM測定が従来の整合法測定に比べ高感度であることは実験的に確認されているが，その原理に関する定量的説明... [more] | EMD2010-134 pp.29-34 |
| EMD | 2010-11-12 08:45 |
海外 | 西安交通大学（中国、西安） | Nonlinearity Measurement of Electrical Contact in Microwave using Standing Wave Coaxial Tube ○Daijiro Ishibashi・Nobuhiro Kuga（Yokohama National Univ.） EMD2010-98 |
[more] | EMD2010-98 pp.129-132 |
| EMD | 2010-03-05 15:25 |
神奈川 | 横浜国立大学 | 外部衝撃に対して同軸接点で発生する相互変調歪みの測定 ○富菜将基・久我宣裕（横浜国大） EMD2009-136 |
[more] | EMD2009-136 pp.37-40 |
| RCS, AP (併催) |
2009-11-27 10:50 |
東京 | 東工大 | PIMソースを内蔵したパッチアンテナの構成法 ○入江健治・久我宣裕（横浜国大） AP2009-132 |
本報告では，アンテナ相互変調ひずみの測定環境の評価を目的とした基準アンテナについて検討を行っている．提案アンテナは相互変... [more] | AP2009-132 pp.79-84 |
| EMD | 2009-11-20 11:40 |
東京 | 日本工業大学 神田キャンパス | Passive Intermodulation due to Distributed Nonlinearity in Mismatched Passive Circuits ○Daijiro Ishibashi・Nobuhiro Kuga・Kazuki Kumagai（Yokohama Nat'l Univ.） EMD2009-95 |
[more] | EMD2009-95 pp.113-116 |
| EMD, EMCJ (共催) |
2009-05-22 13:00 |
東京 | 日本工業大学 神田キャンパス | 電気接点で発生する相互変調ひずみの非接触測定 ○久我宣裕（横浜国大） EMCJ2009-14 EMD2009-6 |
[more] | EMCJ2009-14 EMD2009-6 p.33 |
| EMD | 2008-11-16 10:40 |
宮城 | 東北文化学園大学（仙台） | Intermodulation caused by Surface Mount-Device and Defected Connection ○Ken-ichi Ohnishi・Nobuhiro Kuga（Yokohama Nat'l Univ.） EMD2008-92 |
[more] | EMD2008-92 pp.109-112 |
| EMD | 2008-11-16 11:00 |
宮城 | 東北文化学園大学（仙台） | A Consideration for Duplexer Design in Connection Inspection using Passive Intermodulation ○Takeo Nomura・Nobuhiro Kuga（Yokohama Nat'l Univ.） |
[more] | |
| EMCJ, EMD (共催) |
2008-07-18 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | 導体で発生する3次相互変調ひずみのFDTD解析 ○石橋大二郎・久我宣裕（横浜国大） EMCJ2008-46 EMD2008-28 |
導体のマイクロ波帯相互変調ひずみ特性に関する解析手法として，電流による非線形電界を考慮したFDTD法を提案している．本報... [more] | EMCJ2008-46 EMD2008-28 pp.31-36 |
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