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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
10:50
長崎 長崎県勤労福祉会館 [招待講演]パッケージ基板の層間接続ビア構造における電源インピーダンス低減技術
赤星知幸福盛大雅水谷大輔谷 元昭富士通研CPM2015-136 ICD2015-61
LSIの電源ノイズ低減を目的としたパッケージ基板の電源配線ビア構造における開発技術を紹介する。LSIを搭載する多層ビルド... [more] CPM2015-136 ICD2015-61
pp.51-54
SDM 2015-11-06
14:30
東京 機械振興会館 [招待講演]界面準位が4H-SiC MOSFETのスイッチング動作に与える影響について
酒井 敦永久克己園田賢一郎ルネサス エレクトロニクス)・久田賢一新井耕一山本陽一ルネサス セミコンダクタ マニュファクチャリング)・谷沢元昭山口泰男ルネサス エレクトロニクスSDM2015-91
 [more] SDM2015-91
pp.39-43
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-27
15:30
鹿児島 鹿児島県文化センター [招待講演]3D/2.5D実装向けチップ間接続微細配線技術
谷 元昭中田義弘神吉剛司中村友二富士通研VLD2013-75 CPM2013-119 ICD2013-96 CPSY2013-60 DC2013-41 RECONF2013-43
 [more] VLD2013-75 CPM2013-119 ICD2013-96 CPSY2013-60 DC2013-41 RECONF2013-43
pp.101-106(VLD), pp.63-68(CPM), pp.63-68(ICD), pp.9-14(CPSY), pp.101-106(DC), pp.21-26(RECONF)
SDM 2013-11-14
14:15
東京 機械振興会館 窒化シリコン中の窒素空孔に導入された元素が電子トラップ準位に与える影響
園田賢一郎佃 栄次谷沢元昭石川清志山口泰男ルネサス エレクトロニクスSDM2013-103
 [more] SDM2013-103
pp.21-26
ED 2012-12-17
13:25
宮城 東北大学電通研 片平北キャンパス ナノ・スピン総合研究棟4階 カンファレンスルーム 再配線を利用した77GHz帯高出力増幅器モジュールの開発
佐藤 優石月義克佐々木伸也松村宏志鈴木俊秀谷 元昭富士通研ED2012-94
車載レーダや無線端末などへ適用可能な,ミリ波帯高出力増幅器(パワーアンプ)を実現する技術を開発した.
ミリ波送受信機器... [more]
ED2012-94
pp.7-10
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-29
09:50
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 [招待講演]LSIパッケージ用高密度配線技術
谷 元昭佐々木伸也富士通研)・上西啓介阪大CPM2011-155 ICD2011-87
LSIパッケージ基板用の高密度配線を目的とした我々の開発技術を紹介する。絶縁膜上の配線形成では、絶縁膜表面に水酸基を形成... [more] CPM2011-155 ICD2011-87
pp.35-40
SDM, VLD
(共催)
2007-10-30
15:00
東京 機械振興会館 <110>チャネルnMOS移動度のストレスライナー膜による影響
高篠裕行岡垣 健内田哲也林 岳谷沢元昭佃 栄次永久克己若原祥史石川清志土屋 修井上靖朗ルネサステクノロジVLD2007-57 SDM2007-201
電子の有効ハミルトニアンから剪断歪みと量子閉じ込め現象を取り込んだモデルを提
案。曲げ実験から65nmノードのストレス... [more]
VLD2007-57 SDM2007-201
pp.33-36
SDM, VLD
(共催)
2007-10-30
15:50
東京 機械振興会館 65nmノード歪みpMOSFETのホール伝導における全応力の効果の検証
佃 栄次ルネサステクノロジ)・鎌倉良成阪大)・高篠裕行岡垣 健内田哲也林 岳谷沢元昭永久克己若原祥史石川清志土屋 修井上靖朗ルネサステクノロジ)・谷口研二阪大VLD2007-59 SDM2007-203
本研究では、フル3D プロセスシミュレーターによる応力計算と反転層のサブバンドを考慮したkp 法にもとづくバンド計算から... [more] VLD2007-59 SDM2007-203
pp.43-46
SDM, VLD
(共催)
2006-09-26
10:50
東京 機械振興会館 ばらつき因子の大域的な同定と統計的ワーストケースモデルの生成方法について
永久克己岡垣 健谷沢元昭石川清志土屋 修ルネサステクノロジ
コンパクトモデルパラメータ抽出を含む新しいワーストモデル生成手法を提案する。本手法によれば、開発早期段階においてコンカレ... [more] VLD2006-41 SDM2006-162
pp.13-18
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