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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-28 13:20 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | バルクとSOTBにおけるアンテナダメージによるリングオシレータの発振周波数ばらつきの評価 ○岸田 亮・籔内美智太郎・大島 梓・小林和淑（京都工繊大）  VLD2013-83 DC2013-49 |
近年の集積回路の微細化により、アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている。 本稿ではリングオシレータにおいて発... [more] |
VLD2013-83 DC2013-49 pp.159-164 |
| VLD | 2013-03-06 15:35 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | レジスタビット反転を用いた経年劣化に強靭な多重化回路 ○岡田翔伍・増田政基（京都工繊大）・姚 駿・嶋田 創（奈良先端大）・小林和淑（京都工繊大） VLD2012-162 |
[more] | VLD2012-162 pp.147-152 |
| ICD | 2012-12-18 11:45 |
東京 | 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール | 65 nmプロセスにおける低消費電力冗長化FF（BCDMR-ACFF）の設計と評価 ○増田政基・久保田勘人・山本亮輔（京都工繊大）・古田 潤（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） ICD2012-117 |
集積回路の微細化に伴い、ソフトエラーが問題となっている。対策として冗長化を行なうが、面積・消費電力が増大する。面積を削減... [more] | ICD2012-117 pp.109-113 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-26 16:00 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | ランダム・テレグラフ・ノイズに起因した組合せ回路遅延ゆらぎに対する基板バイアスの影響 ○松本高士（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） VLD2012-70 DC2012-36 |
近年のLSI素子の微細化により、NBTIおよび、RTNなどのゲート絶縁膜の信頼性が回路の信頼性に与える影響がますます深刻... [more] | VLD2012-70 DC2012-36 pp.63-68 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-26 16:25 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | 低電力かつ省面積な耐ソフトエラー多重化フリップフロップ ～ DICE ACFF ～ ○久保田勘人・増田政基（京都工繊大）・小林和淑（京都工繊大/JST） VLD2012-71 DC2012-37 |
[more] | VLD2012-71 DC2012-37 pp.69-74 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-26 16:50 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | 商用FPGAのばらつきとBTIによる経年劣化 ○石井翔平（京都工繊大）・小林和淑（京都工繊大/JST） VLD2012-72 DC2012-38 |
本稿では微細化に伴い顕著になってきたFPGAのばらつきや経年劣化に関する問題に着目し、BTIによるFPGAの経年劣化を定... [more] | VLD2012-72 DC2012-38 pp.75-80 |
| IPSJ-SLDM, VLD (連催) |
2012-05-30 16:20 |
福岡 | 北九州国際会議場 | ［招待講演］微細化によるLSIの信頼性諸問題とその解決策 ○小林和淑（京都工繊大） VLD2012-5 |
本講演では, LSIの微細化とともに表面化している信頼性に関する諸問題とその 解決法を紹介する. 取り扱う話題は, ば... [more] |
VLD2012-5 pp.25-30 |
| ICD | 2011-12-16 09:55 |
大阪 | 大阪大学会館 | MCUに強靭な耐ソフトエラーフリップフロップ ○山本亮輔・濱中 力（京都工繊大）・古田 潤（京大）・小林和淑（京都工繊大/JST）・小野寺秀俊（京大/JST） ICD2011-129 |
ソフトエラーによるLSIの信頼性の低下に対し，フリップフロップの3重化等，多様な耐ソフトエラーフリップフロップが提案され... [more] | ICD2011-129 pp.131-136 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-28 10:30 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | 90nmプロセス商用FPGAにマッピングしたリングオシレータの発振周波数の劣化評価 ○石井翔平（京都工繊大）・小林和淑（京都工繊大/JST） VLD2011-55 DC2011-31 |
微細化に伴い顕著になってきたFPGAの経年劣化に関する問題に着目し、NBTIによるFPGAの劣化を定量的に評価した。FP... [more] | VLD2011-55 DC2011-31 pp.19-24 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-28 13:25 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | 冗長/非冗長化FFによる耐ソフトエラー多重化プロセッサの性能評価 ○岡田翔伍・増田政基（京都工繊大）・姚 駿（奈良先端大）・嶋田 創（奈良先端大/JST）・小林和淑（京都工繊大/JST） VLD2011-59 DC2011-35 |
近年，製造技術の進歩により微細化が進み，その影響でソフトエラー率が上昇し，様々なソフトエラー対策 がなされている。本稿... [more] |
VLD2011-59 DC2011-35 pp.43-48 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-29 15:05 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法 ○松本高士・牧野紘明（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） CPM2011-160 ICD2011-92 |
近年のLSI の微細化により、信頼性の高いシステムを構築することはますます困難となってきている。主要な要因の１つとして、... [more] | CPM2011-160 ICD2011-92 pp.59-63 |
| ICD | 2010-12-16 15:10 |
東京 | 東京大学 先端科学技術研究センター | ［ポスター講演］測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討 ○松本高士・牧野紘明（京大）・小林和淑（京都工繊大/JST）・小野寺秀俊（京大/JST） ICD2010-104 |
本論文において我々は400nsの測定遅延を持つNBTI回復センサー回路を提案した。本回路は多数のユニットセルを含む。1つ... [more] | ICD2010-104 pp.55-58 |
| ICD, SDM (共催) |
2010-08-27 14:10 |
北海道 | 札幌エルプラザ内男女共同参画センター | C-elementのソフトエラー耐性を強化した65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy (BCDMR) FF. 古田 潤（京大）・濱中 力・○小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） SDM2010-146 ICD2010-61 |
[more] | SDM2010-146 ICD2010-61 pp.121-124 |
| VLD | 2010-03-10 15:25 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | 基板バイポーラ効果によるSEUとMCUの発生機構の検討 ○濱中 力（京都工繊大）・古田 潤・牧野紘明（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大/JST） VLD2009-103 |
集積化が進むにつれ素子固有のエラー耐性は低下し，1bit が反転するSEU(Single Event Upset)，複数... [more] | VLD2009-103 pp.25-30 |
| VLD, ICD (共催) |
2008-03-07 13:50 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | 遅延比較器を用いた低コストなFPGAの速度・歩留まり向上手法 ○久米洋平・杉原有理・Ngo Cam Lai・小林和淑・小野寺秀俊（京大） VLD2007-163 ICD2007-186 |
本稿では遅延比較器を用いた低コストなFPGAの速度および歩留まりの向上手法につい て述べる。ランダムばらつきが支配的な... [more] |
VLD2007-163 ICD2007-186 pp.41-46 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) CPSY, RECONF, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2007-11-20 16:00 |
福岡 | 北九州国際会議場 | ランダムばらつきを利用したトラック入れ替えによるFPGAの速度と歩留まり向上 ○杉原有理・久米洋平・小林和淑・小野寺秀俊（京大） RECONF2007-34 |
本稿ではFPGAにおいて製造ばらつきを利用した配線トラックの入れ替えによる速度および歩留まり向上について述べる。ランダム... [more] | RECONF2007-34 pp.13-18 |
| RECONF | 2006-09-14 16:30 |
熊本 | 熊本大学 工学部百周年記念館 | ［特別招待講演］微細プロセスを用いたFPGA設計手法 ○小林和淑（京大） |
本稿では, ディジタルLSIの設計フローを用いたFPGAの設計に ついて, チュートリアル的に解説を行なう. 我々の研... [more] |
RECONF2006-26 pp.35-40 |
| RECONF | 2006-05-19 11:30 |
宮城 | 東北大学 | FPGAのチップ内ばらつきを利用した再配置による高速化の検討 ○尾形幸亮・小谷 学・香月和也・小林和淑・小野寺秀俊（京大） |
[more] | RECONF2006-14 pp.19-24 |
| ICD, VLD (共催) |
2006-03-10 14:25 |
沖縄 | メルパルク沖縄 | ばらつきを利用し補償するための再構成可能回路 ○小谷 学・香月和也・尾形幸亮・小林和淑・小野寺秀俊（京大） |
微細プロセスにおけるチップ内ばらつきによる速度差を利用して、回路の動作速度を高める再構成回路の原理、試作したLSI、その... [more] | VLD2005-130 ICD2005-247 pp.49-54 |
| VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM (共催) |
2005-12-01 16:15 |
福岡 | 北九州国際会議場 | オンチップグローバル配線における確定的/確率的ノイズとエラー率のモデル化 ○湯山洋一・小林和淑・小野寺秀俊（京大） |
[more] | VLD2005-73 ICD2005-168 DC2005-50 pp.73-78 |
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