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講演抄録/キーワード
講演名 2006-02-02 13:30
情報フロー・ダイアグラムによる組込みソフトウェア非正常系の分析手法
亀谷秀洋九工大)・新屋敷泰史三瀬敏郎松下電工/九工大)・橋本正明鵜林尚靖片峯恵一九工大)・中谷多哉子エス・ラグーン/九工大
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抄録 (和) 本稿は,組込みシステムとその動作環境の情報フローをダイアグラムに表現し,そのダイアグラムを用いて組込みソフトウェアの非正常系分析を行うための手法を提案する.近年の組込みシステムは,大規模かつ複雑化,さらに製品開発サイクル短期の要求が著しい.このような現状においては品質問題が発生しやすくなり,製品のリコールは企業にとって大きな問題となる.高品質な組込みソフトウェアを開発するには,非正常系仕様をシステムの分析・設計時に十分に検討しておくことが重要である. 
(英) This paper proposes an analysis method of unexpected obstacles in embedded software by using diagrams on which information flow in embedded systems and their operational environment is drown. Recently, embedded systems have been being become large in scale and complicated. Moreover, the development cycle of the systems is required to be shortened. This trend of industry troubles the quality of products. Recall of products is one of the serious problems for companies. For improving the quality of embedded software, it is indispensable to analyze unexpected obstacles in the process of requirement analysis and design.
キーワード (和) 組込みソフトウェア / 非正常系 / 情報フロー・ダイアグラム / 分析 / / / /  
(英) Embedded Software / Unexpected Obstacles / Information Flow Diagram / Analysis / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 596, SS2005-76, pp. 1-6, 2006年2月.
資料番号 SS2005-76 
発行日 2006-01-26 (SS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 SS  
開催期間 2006-02-02 - 2006-02-03 
開催地(和) 福岡知的クラスター研究所 
開催地(英) Fukuoka Laboratory for Emerging and Enabling Technology of SoC 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) general 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SS 
会議コード 2006-02-SS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 情報フロー・ダイアグラムによる組込みソフトウェア非正常系の分析手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An analysis method of unexpected obstacles in embedded software by Information Flow Diagram 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 組込みソフトウェア / Embedded Software  
キーワード(2)(和/英) 非正常系 / Unexpected Obstacles  
キーワード(3)(和/英) 情報フロー・ダイアグラム / Information Flow Diagram  
キーワード(4)(和/英) 分析 / Analysis  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 亀谷 秀洋 / Hidehiro Kametani / カメタニ ヒデヒロ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 新屋敷 泰史 / Yasufumi Shinyashiki / シンヤシキ ヤスフミ
第2著者 所属(和/英) 松下電工株式会社 (略称: 松下電工/九工大)
Matsushita Electoric Works, Ltd. (略称: MEW)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 三瀬 敏郎 / Toshiro Mise / ミセ トシロウ
第3著者 所属(和/英) 松下電工 (略称: 松下電工/九工大)
Matsushita Electoric Works, Ltd. (略称: MEW)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋本 正明 / Masaaki Hashimoto / ハシモト マサアキ
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称: KIT)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 鵜林 尚靖 / Naoyasu Ubayashi / ウバヤシ ナオヤス
第5著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称: KIT)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 片峯 恵一 / Keiichi Katamine / カタミネ ケイイチ
第6著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称: KIT)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 中谷 多哉子 / Takako Nakatani / ナカタニ タカコ
第7著者 所属(和/英) 有限会社エス・ラグーン (略称: エス・ラグーン/九工大)
S-Lagoon (略称: S-Lagoon)
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講演者
発表日時 2006-02-02 13:30:00 
発表時間 30 
申込先研究会 SS 
資料番号 IEICE-SS2005-76 
巻番号(vol) IEICE-105 
号番号(no) no.596 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-SS-2006-01-26 


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