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集積回路研究会 (ICD)  (検索条件: 2010年度)

「from:2010-12-16 to:2010-12-16」による検索結果

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講演検索結果
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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD 2010-12-16
09:30
東京 東京大学 先端科学技術研究センター 電子局所注入による非対称パスゲートトランジスタを用いた8T-SRAMにおけるハーフセレクト問題の除去
本田健太郎宮地幸祐田中丸周平東大)・宮野信治半導体理工学研究センター)・竹内 健東大ICD2010-95
8T-SRAMのアクセストランジスタをに局所的に電子を局所的に注入することによってしきい値電圧を非対称にし、ハーフセレク... [more] ICD2010-95
pp.1-6
ICD 2010-12-16
09:55
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [招待講演]慶應黒田研究室ISSCC論文ができるまで
三浦典之慶大ICD2010-96
2000年に慶應義塾大学黒田研究室が活動を開始してから10年になり、これまでに14件のISSCC論文を発表してきました。... [more] ICD2010-96
pp.7-12
ICD 2010-12-16
10:55
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [招待講演]アンビエント・エレクトロニクスと集積回路
桜井貴康東大ICD2010-97
エレクトロニクスが環境に溶け込むような形で人々の生活をサポートするアンビエント・エレクトロニクス世代が近づいている。それ... [more] ICD2010-97
pp.13-18
ICD 2010-12-16
13:00
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [招待講演]信号線・電源線ノイズのオンチップ測定と測定結果に基づいた特性の解析 ~ 学位取得までの道のりを振り返って ~
小笠原泰弘ルネサス エレクトロニクスICD2010-98
本稿では信号線のノイズの問題として誘導性クロストークノイズの問題について述べる.90nm プロセスにおける誘導性クロスト... [more] ICD2010-98
pp.19-24
ICD 2010-12-16
13:50
東京 東京大学 先端科学技術研究センター 不揮発性RAM及びNANDフラッシュを用いたSSD向け高エラー率補償アーキテクチャとエラー訂正符号
樋口和英福田真由美田中丸周平竹内 健東大ICD2010-99
本報告では不揮発性RAMとNANDフラッシュメモリを統合したSSD(ソリッドステートドライブ)用の適応的誤り訂正符号(E... [more] ICD2010-99
pp.25-30
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]CMOS技術を利用した不揮発フリップフロップの設計とFractional-N PLL周波数シンセサイザーへの応用
王 戈イ ジョン ギュウ桝井昇一東北大ICD2010-100
本発表では、Standard CMOSプロセスにより追加プロセスの必要がなく実現可能な不揮発フリップフロップ(NV-FF... [more] ICD2010-100
pp.31-36
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]IF filter research for next generation wireless transceiver
Ben PatrickTakayuki KonishiToru KashimuraShoichi MasuiTohoku Univ.ICD2010-101
 [more] ICD2010-101
pp.37-42
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]ユビキタスプロセッサのチップ開発
内海晴信石原拓美三村直道成田一貴・○高木竜哉深瀬政秋佐藤友暁弘前大ICD2010-102
双方向通信のためのダブルコアとJava対応のメディアパイプラインとマルチメディアデータのハードウェア暗号組込み型のサイフ... [more] ICD2010-102
pp.43-48
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]動作周波数を向上させた0.5Vサブスレッショルド駆動アナログ増幅回路の設計
森 隆司原田知親松下浩一奥山澄雄山形大ICD2010-103
MOSFETのサブスレショルド電流で駆動する折り返しカスコード型のアナログ増幅回路について報告する。n型とp型の差動対を... [more] ICD2010-103
pp.49-53
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討
松本高士牧野紘明京大)・小林和淑京都工繊大/JST)・小野寺秀俊京大/JSTICD2010-104
本論文において我々は400nsの測定遅延を持つNBTI回復センサー回路を提案した。本回路は多数のユニットセルを含む。1つ... [more] ICD2010-104
pp.55-58
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]CMOS R-2Rラダー回路のチャネル幅調整による線形性最適化に関する研究
加藤雄大範 公可電通大ICD2010-105
本論文では,各ビットセルのチャネル幅を調整することでCMOS R-2Rラダー回路の線形性を最適化する方法を紹介する.回路... [more] ICD2010-105
pp.59-63
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]2次sinc関数特性を持つチャージサンプリングフィルタの低消費電力化・小面積化の検討
峯藤健司松本 隆早大ICD2010-106
ダイレクトコンバージョン方式の受信機に用いるためのアンチエリアシングフィルタで,遮断周波数帯域が制御可能な回路実装のひと... [more] ICD2010-106
pp.65-70
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]CDR-PLLにおける周波数引き込みシミュレーションの解析
志水泰之吉村 勉岩出秀平牧野博之阪工大)・松田吉雄金沢大ICD2010-107
 [more] ICD2010-107
p.71
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]LC-VCOとリング型VCOのノイズ感度の比較および解析
丸橋 賢吉村 勉岩出秀平牧野博之阪工大)・松田吉雄金沢大ICD2010-108
 [more] ICD2010-108
p.73
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]電源ノイズに注目した電源遮断法の実機評価
高井康充橋本昌宜尾上孝雄阪大ICD2010-109
本稿では,電源遮断構造の電源ノイズへの影響について,65nmプロセスで試作したテストチップの測定とシミュレーションより評... [more] ICD2010-109
pp.75-80
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]0.5V動作6-bitスケーラブル位相補間器
熊木 聡アブル ハサン ジョハリ松原岳志慶大)・林 勇半導体理工学研究センター)・石黒仁揮慶大ICD2010-110
本研究では、2入力インバータを用いたスケーラブル位相補間器を提案する。
パイプラインのような構成を用いることにより、回... [more]
ICD2010-110
p.81
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]トリプルバンドGPS受信機の設計
趙 益均松岡俊匡谷口研二阪大)・海老沼拓史東大ICD2010-111
本研究では、L1、L2、L5のトリプル・バンドの信号を受信するためのGPS(Global Positioning Sys... [more] ICD2010-111
pp.83-84
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]SRAMコアにおける電源/グラウンド雑音の評価
利川 托桝井 翼澤田卓也永田 真神戸大ICD2010-112
SRAMの動作時における電源ノイズを評価するテストチップを90-nm CMOSプロセスにより設計・試作・評価した。本チッ... [more] ICD2010-112
pp.85-88
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]gm/Id Lookup Tableに基づくMOS SPICEモデル検証
稲津賢治樫村 透小西貴之東北大)・加保貴奈NTT)・桝井昇一東北大ICD2010-113
本研究ではアナログ回路の最適化設計で提案されるgm/ID Lookup Table法を基礎としたSPICEモデル・パラメ... [more] ICD2010-113
pp.89-94
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]演算器アレイ型アクセラレータにおけるメモリアクセス機構の設計
下岡俊介岩上拓矢吉村和浩中田 尚中島康彦奈良先端大ICD2010-114
我々は,高電力効率かつバイナリ互換性を備えた演算器アレイ型アクセラレータを提案している.本アクセラレータは,未使用ユニッ... [more] ICD2010-114
pp.95-96
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