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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2017年度)
「from:2018-02-20 to:2018-02-20」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2018-02-20 09:30 |
東京 | 機械振興会館 | 2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察 ○新井雅之（日大）・岩崎一彦（首都大東京）  DC2017-77 |
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い，欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている．著者らは，... [more] | DC2017-77 pp.1-6 |
| DC | 2018-02-20 09:55 |
東京 | 機械振興会館 | コントローラ拡大を用いた遷移故障テストパターン数削減のための演算器のテストレジスタ割当て法 ○竹内勇希・武田 俊・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） DC2017-78 |
VLSIのテストコストを削減するためには，テストパターン数を削減することが必要である．特に動的テスト圧縮の効率を高めるた... [more] | DC2017-78 pp.7-12 |
| DC | 2018-02-20 10:35 |
東京 | 機械振興会館 | TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減 ○平井智士・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2017-79 |
3次元積層ICにおけるダイ間配線の新しい実装方法として，TSV(Through-Silicon-Via)が注目されている... [more] | DC2017-79 pp.13-18 |
| DC | 2018-02-20 11:00 |
東京 | 機械振興会館 | 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究 ○河野雄大・宮瀬紘平・梶原誠司・温 暁青（九工大） DC2017-80 |
LSIのテスト時は，通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する．特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] | DC2017-80 pp.19-24 |
| DC | 2018-02-20 11:40 |
東京 | 機械振興会館 | kサイクルテストに基づく有限状態機械のテスト生成法 ○木下湧矢・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2017-81 |
半導体集積技術の発達に伴い，VLSIの大規模化，複雑化が急速に進んでいる．これに伴い，効率の良い順序回路のテスト生成技術... [more] | DC2017-81 pp.25-30 |
| DC | 2018-02-20 12:05 |
東京 | 機械振興会館 | 焼きなまし法によるロケーティングアレイの生成 ○小西達也・小島英春・中川博之・土屋達弘（阪大） DC2017-82 |
組み合わせテストは, 効率的なソフトウェアテスト手法の1 つである. 本論文では, 組み合わせテストで使用するテストケー... [more] | DC2017-82 pp.31-35 |
| DC | 2018-02-20 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | アドホックネットワークにおけるステートレスな回避ルーティングに関する一考察 ○前田智徳・酒井和哉・福本 聡（首都大東京） DC2017-83 |
[more] | DC2017-83 pp.37-42 |
| DC | 2018-02-20 14:25 |
東京 | 機械振興会館 | A Golden-Free Hardware Trojan Detection Technique Considering Intra-Die Variation ○Fakir Sharif Hossain・Tomokazu Yoneda・Michihiro Shintani・Michiko Inoue（NAIST）・Alex Orailoglu（Univ. of California, San Diego） DC2017-84 |
High detection sensitivity in the presence of process variat... [more] | DC2017-84 pp.43-48 |
| DC | 2018-02-20 15:05 |
東京 | 機械振興会館 | デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法 ○井上賢二・三宅庸資・梶原誠司（九工大） DC2017-85 |
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため，リングオシレータ(RO：Ring Oscillator)を用いたデジタ... [more] | DC2017-85 pp.49-54 |
| DC | 2018-02-20 15:30 |
東京 | 機械振興会館 | LUT構造を考慮したFPGAの特性ばらつきの測定方法の検討 ○佐藤晃平・三浦幸也（首都大東京） DC2017-86 |
FPGA(Field Programmable Gate Array)とは，ユーザが任意の論理機能に何度も書き換えて実装... [more] | DC2017-86 pp.55-60 |
| DC | 2018-02-20 16:10 |
東京 | 機械振興会館 | メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法 ○王 森レイ・小川達也・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・佐藤正幸・勝 満徳（TRL）・関口象一（太陽誘電） DC2017-87 |
MRLD とは、メモリ機能も備える新しい再構成可能論理デバイスである。MRLD の基本要素となるMLUT（Multipl... [more] | DC2017-87 pp.61-66 |
| DC | 2018-02-20 16:35 |
東京 | 機械振興会館 | 電源ノイズによるフリップフロップ回路の動作への影響とその対策の提案 ○井上美優紀・三浦幸也（首都大東京） DC2017-88 |
近年，VLSI回路の微細化や電源電圧の低下に伴い，IR-dropのような電源ノイズによる回路動作への影響が問題となってい... [more] | DC2017-88 pp.67-72 |
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