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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2018-03-08 15:15 微摺動機構を用いた電気接点の劣化現象 ～ いくつかの実験条件下における最小摺動振幅に関連した入力波形の比較4 ～ ○越田圭治・和田真一（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大）  EMD2017-75 MR2017-46 SCE2017-46 EID2017-48 ED2017-120 CPM2017-140 SDM2017-120 ICD2017-125 OME2017-69 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2017-75 MR2017-46 SCE2017-46 EID2017-48 ED2017-120 CPM2017-140 SDM2017-120 ICD2017-125 OME2017-69 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，振動下における電気接点の劣化現象に関する検討を行ってきた．また，ピエゾ・アクチュエータと弾性ヒンジを用いた微摺動機構を開発し，いくつかの条件下において，電気接点を劣化させる「最小摺動振幅」について検討してきた．そして，それらに関連して，正弦波で立ち上がるパルス波外力を入力とする振動系の，1質点近似モデルを用いた検討をしてきた．本論文では，より現実に即した検討を行うために摩擦力を加味したモデルについて報告する． |
| （英） | Authors have studied degradation phenomena on electrical contacts under oscillations. In addition, they have developed a micro sliding mechanism using a piezo-electric actuator and an elastic hinges and have studied minimal sliding amplitude which degrades the electrical contact under some conditions. In addition, they have studied using a point mass approximation model of the oscillating system with input of pulsive wave external force rising with sine wave as input. In this paper, they report on a model with frictional force for more realistic study. | |
| キーワード | （和） | 電気接点 / 劣化現象 / 摩擦力 / 振動系 / 減衰振動 / 運動方程式 / インパルス応答 / デュハメル積分 |
| （英） | electrical contact / degradation phenomenon / frictional force / oscillating system / damped oscillation / equation of motion / impulse response / Duhamel's integral | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 492, EMD2017-75, pp. 15-20, 2018年3月. | |
| 資料番号 | EMD2017-75 | |
| 発行日 | 2018-03-01 (EMD, MR, SCE, EID, ED, CPM, SDM, ICD, OME) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2017-75 MR2017-46 SCE2017-46 EID2017-48 ED2017-120 CPM2017-140 SDM2017-120 ICD2017-125 OME2017-69 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2017-75 MR2017-46 SCE2017-46 EID2017-48 ED2017-120 CPM2017-140 SDM2017-120 ICD2017-125 OME2017-69 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM ED EID SDM ICD MRIS QIT SCE |
| 開催期間 | 2018-03-08 - 2018-03-08 |
| 開催地（和） | 東レ総合研修センター |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 回路デバイス境界技術領域合同研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2018-03-CPM-ED-EID-SDM-ICD-MRIS-QIT-SCE-OME-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 微摺動機構を用いた電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | いくつかの実験条件下における最小摺動振幅に関連した入力波形の比較4 |
| タイトル（英） | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism |
| サブタイトル（英） | The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions 4 |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 劣化現象 / degradation phenomenon |
| キーワード(3)（和/英） | 摩擦力 / frictional force |
| キーワード(4)（和/英） | 振動系 / oscillating system |
| キーワード(5)（和/英） | 減衰振動 / damped oscillation |
| キーワード(6)（和/英） | 運動方程式 / equation of motion |
| キーワード(7)（和/英） | インパルス応答 / impulse response |
| キーワード(8)（和/英） | デュハメル積分 / Duhamel's integral |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System (略称： TMC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System (略称： TMC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： NIT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2018-03-08 15:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2017-75, MR2017-46, SCE2017-46, EID2017-48, ED2017-120, CPM2017-140, SDM2017-120, ICD2017-125, OME2017-69 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.492(EMD), no.493(MR), no.494(SCE), no.495(EID), no.496(ED), no.497(CPM), no.498(SDM), no.499(ICD), no.500(OME) |
| ページ範囲 | pp.15-20 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-03-01 (EMD, MR, SCE, EID, ED, CPM, SDM, ICD, OME) |
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