| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2018-02-28 14:40 表面電位顕微鏡を用いたナノ材料ゼーベック係数測定手法の開発 鈴木悠平・岡 晃人・川合健斗・立岡浩一・猪川 洋・下村 勝・村上健司（静岡大）・ファイズ サレ（マラヤ大）・○池田浩也（静岡大）  ED2017-110 SDM2017-110 エレソ技報アーカイブへのリンク：ED2017-110 SDM2017-110 |
|
| 抄録 | （和） | 熱電変換効率を向上するための方策のひとつとしてナノ構造材料の導入が期待されているが，そのためにはナノスケール材料の熱電特性評価技術が不可欠である．我々は，ナノスケールの熱電材料のゼーベック係数を測定するために，表面電位顕微鏡（KFM）を用いた新しい手法を開発している．KFMでは試料とカンチレバーの局所的なフェルミエネルギー差を測定できるので，温度差を与えた試料の高温部分と低温部分の表面電位差と温度差がわかれば，ゼーベック係数を評価できる．本研究では，SOI（Si on insulator）基板に温度差を与えたときのKFMによる熱起電力測定を確認するとともに，局所的に温度を測定するためにKFMを使った温度計測技術についても報告する． |
| （英） | Although the introduction of nanostructures into thermoelectric materials is one of key technology for enhancement in thermoelectric conversion efficiency, a technique for characterizing the nanometer-scale material is required. With the aim of evaluating Seebeck coefficient of nanostructured thermoelectric materials, we propose a new technique by Kelvin-probe force microscopy (KFM) which gives us local surface potential corresponding to the Fermi energy difference of a sample relative to the cantilever. Hence, thermoelectromotive force and temperature difference are obtained from the surface potentials and temperatures at the high- and low-temperature regions on the sample, which leads to evaluation of Seebeck coefficient. In this study, the Seebeck coefficient of Si-on-insulator (SOI) layer is evaluated by KFM. In addition, the measurement technique of local temperature by KFM is also described. | |
| キーワード | （和） | 熱電変換 / ナノ構造 / ゼーベック係数 / 表面電位顕微鏡（KFM） / / / / |
| （英） | thermoelectrics / nanostructure / Seebeck coefficient / Kelvin-probe force microscopy (KFM) / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 454, SDM2017-110, pp. 27-30, 2018年2月. | |
| 資料番号 | SDM2017-110 | |
| 発行日 | 2018-02-21 (ED, SDM) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ED2017-110 SDM2017-110 エレソ技報アーカイブへのリンク：ED2017-110 SDM2017-110 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ED SDM |
| 開催期間 | 2018-02-28 - 2018-02-28 |
| 開催地（和） | 北海道大学百年記念会館 |
| 開催地（英） | Centennial Hall, Hokkaido Univ. |
| テーマ（和） | 機能ナノデバイスおよび関連技術 |
| テーマ（英） | Functional nanodevices and related technologies |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SDM |
| 会議コード | 2018-02-ED-SDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 表面電位顕微鏡を用いたナノ材料ゼーベック係数測定手法の開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Construction of Seebeck coefficient evaluation technique by Kelvin-probe force microscopy |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 熱電変換 / thermoelectrics |
| キーワード(2)（和/英） | ナノ構造 / nanostructure |
| キーワード(3)（和/英） | ゼーベック係数 / Seebeck coefficient |
| キーワード(4)（和/英） | 表面電位顕微鏡（KFM） / Kelvin-probe force microscopy (KFM) |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鈴木 悠平 / Yuhei Suzuki / スズキ ユウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 静岡大学 (略称： 静岡大) Shizuoka University (略称： Shizuoka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岡 晃人 / Akito Oka / オカ アキト |
| 第2著者 所属（和/英） | 静岡大学 (略称： 静岡大) Shizuoka University (略称： Shizuoka Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 川合 健斗 / Taketo Kawai / カワイ タケト |
| 第3著者 所属（和/英） | 静岡大学 (略称： 静岡大) Shizuoka University (略称： Shizuoka Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 立岡 浩一 / Hirokazu Tatsuoka / タツオカ ヒロカズ |
| 第4著者 所属（和/英） | 静岡大学 (略称： 静岡大) Shizuoka University (略称： Shizuoka Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 猪川 洋 / Hiroshi Inokawa / イノカワ ヒロシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 静岡大学 (略称： 静岡大) Shizuoka University (略称： Shizuoka Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 下村 勝 / Masaru Shimomura / シモムラ マサル |
| 第6著者 所属（和/英） | 静岡大学 (略称： 静岡大) Shizuoka University (略称： Shizuoka Univ.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 村上 健司 / Kenji Murakami / ムラカミ ケンジ |
| 第7著者 所属（和/英） | 静岡大学 (略称： 静岡大) Shizuoka University (略称： Shizuoka Univ.) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | ファイズ サレ / Faiz Salleh / ファイズ サレ |
| 第8著者 所属（和/英） | マラヤ大学 (略称： マラヤ大) University of Malaya (略称： Univ. of Malaya) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | 池田 浩也 / Hiroya Ikeda / イケダ ヒロヤ |
| 第9著者 所属（和/英） | 静岡大学 (略称： 静岡大) Shizuoka University (略称： Shizuoka Univ.) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第9著者 |
| 発表日時 | 2018-02-28 14:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SDM |
| 資料番号 | ED2017-110, SDM2017-110 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.453(ED), no.454(SDM) |
| ページ範囲 | pp.27-30 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2018-02-21 (ED, SDM) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]