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講演抄録/キーワード
講演名 2017-12-14 15:10
オンチップ・セットアップタイム測定回路を用いた高精度スキュー調整手法の提案
神庭直人石井雅樹佐々木昌浩芝浦工大
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抄録 (和) 近年,集積回路の高速化により許容できるクロックスキューが減少し,より高精度なスキュー低減システムが必要とされている.本研究では設計段階で残る僅かなスキューおよび製造過程で生じるスキューを低減するために,オンチップ・相対セットアップタイム測定回路により得られるタイミングエラー情報を用い,動的な高精度スキュー調整回路を提案する. 
(英) In recent years, clock skew which can be tolerated is reduced because the operating speed of integrated circuits increase, therefore high precision skew reduction system is required. In this study, we propose a dynamic high precision skew adjustment circuit using timing error information measured by the on-chip relative setup time measurement circuit in order to reduce the slight skew remaining in the design stage and the skew caused by the manufacturing process.
キーワード (和) programmable delay line / skew adjustment / tspc d-ff / setup time / / / /  
(英) programmable delay line / skew adjustment / tspc d-ff / setup time / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 344, ICD2017-72, pp. 97-97, 2017年12月.
資料番号 ICD2017-72 
発行日 2017-12-07 (CAS, ICD, CPSY) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 ICD CPSY CAS  
開催期間 2017-12-14 - 2017-12-15 
開催地(和) アートホテル石垣島 
開催地(英) Art Hotel Ishigakijima 
テーマ(和) 学生・若手研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2017-12-ICD-CPSY-CAS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) オンチップ・セットアップタイム測定回路を用いた高精度スキュー調整手法の提案 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Proposal of high precision skew adjustment method with an on-chip setup time measurement circuit 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) programmable delay line / programmable delay line  
キーワード(2)(和/英) skew adjustment / skew adjustment  
キーワード(3)(和/英) tspc d-ff / tspc d-ff  
キーワード(4)(和/英) setup time / setup time  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 神庭 直人 / Naoto Kamba / カンバ ナオト
第1著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: SIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 石井 雅樹 / Masaki Ishii / イシイ マサキ
第2著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: SIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐々木 昌浩 / Masahiro Sasaki / ササキ マサヒロ
第3著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: SIT)
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講演者
発表日時 2017-12-14 15:10:00 
発表時間 120 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-CAS2017-84,IEICE-ICD2017-72,IEICE-CPSY2017-81 
巻番号(vol) IEICE-117 
号番号(no) no.343(CAS), no.344(ICD), no.345(CPSY) 
ページ範囲 p.97 
ページ数 IEICE-1 
発行日 IEICE-CAS-2017-12-07,IEICE-ICD-2017-12-07,IEICE-CPSY-2017-12-07 


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