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講演抄録/キーワード
講演名 2017-12-14 15:10
Drowsyキャッシュによる断熱的FinFET SRAMのばらつきの検証
田中友貴高橋康宏関根敏和岐阜大
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抄録 (和) 本論文では,従来の6T SRAM,DrowsyキャッシュSRAM,アクセストランジスタをLPモードにした「提案回路1」,アクセストランジスタをLPモードのトランスミッションゲートにした「提案回路2」の4種類の回路それぞれについて,FinFETのしきい値電圧を,基準値の許容誤差の分布と乱数でばらつかせ1000回のシミュレーションを行い,回路のスタティックノイズマージン(以下「SNM」と表記)にどれだけの変化が生じるかを検討する. 
(英) This paper inspects the differences of static noise margin of 4 types of SRAM circuits. These circuits are analyzed threshold voltage variability induced by work function fluctuations in 45nm FinFET.
キーワード (和) 断熱的論理 / DrowsyキャッシュSRAM / SRAM消費エネルギーの削減 / モンテカルロシミュレーション / / / /  
(英) Adiabatic logic / Drowsy caches SRAM / Reduction of energy consumption / Monte Carlo simulation / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 343, CAS2017-77, pp. 71-74, 2017年12月.
資料番号 CAS2017-77 
発行日 2017-12-07 (CAS, ICD, CPSY) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 ICD CPSY CAS  
開催期間 2017-12-14 - 2017-12-15 
開催地(和) アートホテル石垣島 
開催地(英) Art Hotel Ishigakijima 
テーマ(和) 学生・若手研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CAS 
会議コード 2017-12-ICD-CPSY-CAS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) Drowsyキャッシュによる断熱的FinFET SRAMのばらつきの検証 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Evaluation of Variations and Reliabilities of Drowsy Cache Type Adiabatic FinFET SRAM 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 断熱的論理 / Adiabatic logic  
キーワード(2)(和/英) DrowsyキャッシュSRAM / Drowsy caches SRAM  
キーワード(3)(和/英) SRAM消費エネルギーの削減 / Reduction of energy consumption  
キーワード(4)(和/英) モンテカルロシミュレーション / Monte Carlo simulation  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中 友貴 / Tomotaka Tanaka / タナカ トモタカ
第1著者 所属(和/英) 岐阜大学 (略称: 岐阜大)
Gifu University (略称: Gifu Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 康宏 / Yasuhiro Takahashi / タカハシ ヤスヒロ
第2著者 所属(和/英) 岐阜大学 (略称: 岐阜大)
Gifu University (略称: Gifu Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 関根 敏和 / Toshikazu Sekine / セキネ トシカズ
第3著者 所属(和/英) 岐阜大学 (略称: 岐阜大)
Gifu University (略称: Gifu Univ.)
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講演者
発表日時 2017-12-14 15:10:00 
発表時間 120 
申込先研究会 CAS 
資料番号 IEICE-CAS2017-77,IEICE-ICD2017-65,IEICE-CPSY2017-74 
巻番号(vol) IEICE-117 
号番号(no) no.343(CAS), no.344(ICD), no.345(CPSY) 
ページ範囲 pp.71-74 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-CAS-2017-12-07,IEICE-ICD-2017-12-07,IEICE-CPSY-2017-12-07 


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