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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-11-22 14:15 意図的な電磁妨害による故障発生にクロック信号の立ち上がり時間が与える影響に関する検討 ○伊東拓哉（東北大）・林 優一（奈良先端大）・水木敬明・曽根秀昭（東北大）  EMCJ2017-71 |
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| 抄録 | （和） | 暗号機器に対する電源線を利用した意図的な電磁妨害による故障注入手法は，クロック信号の立ち上がり部分に異常を発生させることで解析を行うため，故障注入に脆弱な立ち上がり時間が存在する可能性がある．一方で，クロック信号の立ち上がり時間はクロック信号が持つ周波数スペクトルの帯域に影響を与えるため，故障注入への対策を検討するだけでなく，EMCも両立するパラメタの検討が必要となる．本稿では，実際の暗号機器に対してクロック信号の立ち上がり時間を変化させ，各立ち上がり時間において故障注入を行い，立ち上がり時間と故障発生確率の関係を調査した．実験の結果，クロック信号の立ち上がり時間が短くなるほど故障発生確率が低下することを確認した．このことから，立ち上がりを緩やかにすることでクロック信号が持つ周波数スペクトルの帯域を制限するというEMC対策が故障注入への対策と逆行することが明らかになった．また，今回の実験環境で故障注入に耐性を持ちながらEMCを両立可能なパラメタの範囲を示した． |
| （英） | The intentional electromagnetic interference (IEMI) fault-injection method generates a fault by injecting a glitch into the clock rise. This means that there is a possibility of existence of a vulnerable clock rise time. A clock rise time has an effect on a frequency spectrum of a clock pulse. Therefore it is necessary to discuss the parameter in terms of a countermeasure against fault injection and electromagnetic compatibility. This paper discusses the parameter that is resistant to fault injection and effective for electromagnetic compatibility. We investigate the relation between a clock rise time and the number of fault occurrence by performing an IEMI fault injection experiment on actual cryptographic hardware while changing the clock rise time. The experimental result shows that shorter clock rise time leads to a reduction of the fault probability. This means that reducing the high-frequency emissions of the clock signal by reducing the clock rise time has a reverse effect on a countermeasure against fault injection. We also showed the parameter that is resistant to fault injection and effective for electromagnetic compatibility. | |
| キーワード | （和） | 意図的な電磁妨害 / 故障発生タイミング / 故障利用解析 / / / / / |
| （英） | Intentional Electromagnetic Interference / Fault Timing / Fault Analysis / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 319, EMCJ2017-71, pp. 41-44, 2017年11月. | |
| 資料番号 | EMCJ2017-71 | |
| 発行日 | 2017-11-15 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2017-71 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2017-11-22 - 2017-11-22 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 若手研究者発表会 |
| テーマ（英） | Young Scientist Meeting |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2017-11-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 意図的な電磁妨害による故障発生にクロック信号の立ち上がり時間が与える影響に関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study on the Effect of Clock Rise Time on Fault Occurrence under IEMI |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 意図的な電磁妨害 / Intentional Electromagnetic Interference |
| キーワード(2)（和/英） | 故障発生タイミング / Fault Timing |
| キーワード(3)（和/英） | 故障利用解析 / Fault Analysis |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊東 拓哉 / Takuya Itoh / イトウ タクヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 水木 敬明 / Takaaki Mizuki / ミズキ タカアキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 曽根 秀昭 / Hideaki Sone / ソネ ヒデアキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-11-22 14:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2017-71 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.319 |
| ページ範囲 | pp.41-44 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2017-11-15 (EMCJ) |
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