講演抄録/キーワード |
講演名 |
2017-11-07 09:00
スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について ○大島繁之・加藤隆明(九工大)・王 森レイ(愛媛大)・佐藤康夫・梶原誠司(九工大) VLD2017-41 DC2017-47 |
抄録 |
(和) |
論理BISTにおける故障検出率向上のために,マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案されている.しかし既存手法では,中間観測するFF数,すなわち中間観測による面積オーバヘッドと故障検出率とはトレードオフの関係にある.本研究では,テスト対象回路の回路接続情報を解析することで,故障検出率向上及び回路面積増大を抑制する中間観測FF選出手法を提案する.評価実験により,面積オーバヘッドは既存手法から87.5 %削減が可能であることを確認できた. |
(英) |
A logic BIST scheme using multi-cycle test with partial observation has been proposed. In the scheme, the selection of flip-flops for partial observation plays an important role for improving the fault coverage and reducing the area overhead. This paper proposes a selection method of flip-flops for partial observation that can maximize the fault coverage under the limitation of the number of flip-flops. Experimental results show that the proposed method can obtain higher fault coverage than the existing flip-flop selection method and results in less area overhead. |
キーワード |
(和) |
BIST / スキャンテスト / マルチサイクルテスト / 中間観測 / / / / |
(英) |
BIST / Scan Test / Multi-Cycle Test / Partial Observation / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 117, no. 274, DC2017-47, pp. 85-90, 2017年11月. |
資料番号 |
DC2017-47 |
発行日 |
2017-10-30 (VLD, DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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VLD2017-41 DC2017-47 |