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講演抄録/キーワード
講演名 2017-03-02 09:50
ウエハスケールマスクROMの階層的データ読み出し回路の高信頼化
横山高明越智裕之立命館大VLD2016-110
抄録 (和) 現在,先進諸国の国立図書館などにおいて,大容量のデータを長期間にわたってデジタル形式で保管する需要があるが,既存のメディアの寿命は10年から200年程度とアナログ媒体の寿命と比較して非常に短い.そこで,その問題の解決策としてマスクROM を用いたデータの恒久保存可能メディアが提案されている.
本論文では,ウエハスケールマスクROMで用いられているH-treeアーキテクチャ内で階層的読み出し動作の制御を行っているBinary Sequencerを改良したモジュールを提案する.また,従来型BSと2つの提案するBSを効果的に組み合わせたH-treeアーキテクチャへの適用法も提案し,信頼性と面積のトレードオフについて評価を行う. 
(英) In the national libraries of developed countries, there is a demand to store large amounts of data in a digital form over a long period of time, but the lifetime of existing media is about 10 to 200 years, which is very short compared with that of analog media. As a solution to the problem, a media which permanently stores data using mask ROM has been proposed.
In this paper, we propose a modified Binary Sequencer which controls hierarchical read operation within the H-tree architecture used in wafer scale mask ROM. We also propose an effective method for implementing the H-tree architecture by combining two kind of proposed BS with conventional BS, and evaluated trade-off between reliability and area.
キーワード (和) H-treeアーキテクチャ / パワーゲーティング / 三重化 / 時間制限 / 長寿命デジタル保存メディア / / /  
(英) H-tree architecture / power gating / TMR / WDT / long-term digital storage media / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 478, VLD2016-110, pp. 49-54, 2017年3月.
資料番号 VLD2016-110 
発行日 2017-02-22 (VLD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2016-110

研究会情報
研究会 VLD  
開催期間 2017-03-01 - 2017-03-03 
開催地(和) 沖縄県青年会館 
開催地(英) Okinawa Seinen Kaikan 
テーマ(和) システムオンシリコンを支える設計技術 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2017-03-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ウエハスケールマスクROMの階層的データ読み出し回路の高信頼化 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Reliability enhancement of Hierarchical data reading circuit of Wafer scale mask ROM 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) H-treeアーキテクチャ / H-tree architecture  
キーワード(2)(和/英) パワーゲーティング / power gating  
キーワード(3)(和/英) 三重化 / TMR  
キーワード(4)(和/英) 時間制限 / WDT  
キーワード(5)(和/英) 長寿命デジタル保存メディア / long-term digital storage media  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 横山 高明 / Takaaki Yokoyama / ヨコヤマ タカアキ
第1著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越智 裕之 / Ochi Hiroyuki / オチ ヒロユキ
第2著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ)
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講演者 第1著者 
発表日時 2017-03-02 09:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2016-110 
巻番号(vol) vol.116 
号番号(no) no.478 
ページ範囲 pp.49-54 
ページ数
発行日 2017-02-22 (VLD) 


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