お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2017-02-17 13:40
薄膜スライド接点における摺動摩耗抑制
山本勇樹梅内芳浩オムロン)・森井真喜人オムロンスイッチアンドデバイスR2016-62 EMD2016-89 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2016-89
抄録 (和) 電気接点における接点損耗は大別すると機械的摩耗と電気的消耗の2つに分けられる。機械的摩耗に関しては、Holm等によって接点硬度と摩耗量の関係が確認されてきた。しかしながら、厚さ数ミクロン以下の薄膜金属を接点として扱う場合には、ビッカース等の従来測定方法では精度の良いデータを得るのが困難であり、バルク材での検討のように接点硬度と摩耗量の相関を得ることが難しかった。本検討では、薄膜金属の硬度をより精度良く測定する手法としてナノインデンテーション法による硬度測定を見出した。その結果、薄膜接点の硬度と摩耗量の相関が測れるようになり、接点硬度によるスライド接点の摩耗抑制が可能となった。 
(英) Contact wear at electrical contacts is roughly classified into mechanical wear and electrical wear. Regarding mechanical wear, the relationship between contact hardness and wear has been confirmed by Holm[1]. However, when the contact thickness becomes thin to several microns or less, it is difficult to measure by the conventional measurement method such as Vickers, and it was difficult to obtain the correlation between the contact hardness and the wear amount as in the bulk material study. Therefore, in this study, we have found the Nano-indentation as a more accurately measurement method for hardness of the thin film metal. As a result, the correlation between the hardness of the thin film contacts and the wear amount was clarified, and the wear of the sliding contact can be controlled by the contact hardness.
キーワード (和) スライド接点 / 摺動摩耗 / 硬度 / ナノインデンテーション / / / /  
(英) Sliding Contact / Mechanical Wear / Hardness / Nano-Indentation / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 459, EMD2016-89, pp. 15-18, 2017年2月.
資料番号 EMD2016-89 
発行日 2017-02-10 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2016-62 EMD2016-89 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2016-89

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2017-02-17 - 2017-02-17 
開催地(和) オムロン草津事業所 
開催地(英) Omuron Kusatsu Factory 
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2017-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 薄膜スライド接点における摺動摩耗抑制 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Contorol of sliding wear for thin film sliding contacts. 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) スライド接点 / Sliding Contact  
キーワード(2)(和/英) 摺動摩耗 / Mechanical Wear  
キーワード(3)(和/英) 硬度 / Hardness  
キーワード(4)(和/英) ナノインデンテーション / Nano-Indentation  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 山本 勇樹 / Yuki Yamamoto / ヤマモト ユウキ
第1著者 所属(和/英) オムロン株式会社 (略称: オムロン)
Omron Corporation (略称: Omron)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 梅内 芳浩 / Yoshihiro Umeuchi / ウメウチ ヨシヒロ
第2著者 所属(和/英) オムロン株式会社 (略称: オムロン)
Omron Corporation (略称: Omron)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 森井 真喜人 / Makito Morii / モリイ マキト
第3著者 所属(和/英) オムロンスイッチアンドデバイス株式会社 (略称: オムロンスイッチアンドデバイス)
OMRON SWITCH & DEVICES Corporation (略称: OES)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2017-02-17 13:40:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 R2016-62, EMD2016-89 
巻番号(vol) vol.116 
号番号(no) no.458(R), no.459(EMD) 
ページ範囲 pp.15-18 
ページ数
発行日 2017-02-10 (R, EMD) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会