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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-12-15 17:20 測定ポート数と被測定回路ポート数が異なる場合の間接Sパラメータ推定の検討 ○小島侑也・関根敏和・高橋康宏（岐阜大）  MW2016-152 エレソ技報アーカイブへのリンク：MW2016-152 |
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| 抄録 | （和） | 治具を介した間接的な測定により被測定回路のSパラメータを求めることの利点に，測定ポートと被測定回路のポートのグランドが非共通でもよいことがある．本文で述べる間接測定法では，まず，被測定回路の代わりに既知の負荷を治具に接続し，残りのポート間のSパラメータを測定することで治具のTパラメータを推定する．次に，治具に被測定回路を接続したときの測定値から治具の特性を取り除いて被測定回路のSパラメータを得る．このとき，治具のTパラメータを推定する利点は，推定式が線形方程式になることにある．本文では，測定ポート数が被測定回路のポート数と異なる場合を電磁界シミュレーションで検討し，被測定回路のSパラメータを精度よく推定するには，治具のTパラメータを適切に推定することが必要であることを述べている． |
| （英） | An advantage of obtaining the S parameter of the device under test by indirect measurement via fixture is that the ground of measurement ports and device under test ports may have different. In the indirect method described in this paper, first, the known loads are connected to a fixture in place of the device under test, and the T parameter of the fixture is estimated by measuring the S parameter between the remaining ports. Next, the S parameters of the device under test are obtained by removing the characteristics of the fixture from the measured value when the device under test is connected to the fixture. In this paper, the advantage of estimating the T parameter of the fixture is that the estimation equations are linear equations. The case where the number of measurement ports are different from the number of ports of the device under test is studied by electromagnetic simulation. As a result, it is necessary to proper estimate the T parameter of the fixture in order to accurately estimate the S parameter of the device under test is descrived. | |
| キーワード | （和） | 間接測定 / Sパラメータ測定 / ディエンベディング / Tパラメータ / 多ポート回路 / / / |
| （英） | indirect measurement / S-parameters measurement / de-embedding / T-parameters / multi-port circuit / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 363, MW2016-152, pp. 113-117, 2016年12月. | |
| 資料番号 | MW2016-152 | |
| 発行日 | 2016-12-08 (MW) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MW2016-152 エレソ技報アーカイブへのリンク：MW2016-152 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
| 開催期間 | 2016-12-15 - 2016-12-16 |
| 開催地（和） | 防衛大学校 |
| 開催地（英） | National Defense Academy |
| テーマ（和） | 学生研究会／マイクロ波一般 |
| テーマ（英） | Students Session / Microwave Technologies |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MW |
| 会議コード | 2016-12-MW |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 測定ポート数と被測定回路ポート数が異なる場合の間接Sパラメータ推定の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Investigation of indirect S parameter estimation when the number of ports of measurement and the number of ports of the circuit to be measured are different |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 間接測定 / indirect measurement |
| キーワード(2)（和/英） | Sパラメータ測定 / S-parameters measurement |
| キーワード(3)（和/英） | ディエンベディング / de-embedding |
| キーワード(4)（和/英） | Tパラメータ / T-parameters |
| キーワード(5)（和/英） | 多ポート回路 / multi-port circuit |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小島 侑也 / Yuuya Kojima / コジマ ユウヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 岐阜大学 (略称： 岐阜大) Gifu University (略称： Gifu Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 関根 敏和 / Toshikazu Sekine / セキネ トシカズ |
| 第2著者 所属（和/英） | 岐阜大学 (略称： 岐阜大) Gifu University (略称： Gifu Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 康宏 / Yasuhiro Takahashi / タカハシ ヤスヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 岐阜大学 (略称： 岐阜大) Gifu University (略称： Gifu Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-12-15 17:20:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | MW |
| 資料番号 | MW2016-152 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.363 |
| ページ範囲 | pp.113-117 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2016-12-08 (MW) |
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