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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-06-16 10:10 単一故障用テストパターンでは不十分な場合を考慮した多重縮退故障用テストパターン自動生成手法 ○ムーア コンラッド ジンヨン・ガラバギ アミル マスード・藤田昌宏（東大）  CAS2016-3 VLD2016-9 SIP2016-37 MSS2016-3 |
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| 抄録 | （和） | 年々製造される回路が大きく高密度になっているので、産業界で用いられている単一故障発見のためのATPG手法だけでは多重故障の見逃しが多くなってしまう。多重故障の数は単一故障と比較して指数的に増加するものであるが、既存研究では事前に単一故障のためのテストパターンを与えれば比較的少数の追加パターンですべての多重故障がカバーできることが示されている[1]。本稿では、ATPGによって生成された単一縮退故障検出のためのテストパターンが多重縮退故障を検出しない場合について、厳密な検討を行う。まず単一縮退故障のためのATPG手法がすべての多重縮退故障をカバーするために満たすべき条件を示す。次に単一縮退故障のためのATPG手法が満たすべき、それなしでは全多重縮退故障が検出できなくなるような条件を考える。最後に我々の提案するATPG手法を説明する。 |
| （英） | As fabricated circuitry gets larger and denser, modern industrial ATPG techniques which focus on the detection of single faults become more likely to overlook multiple (simultaneous) faults. Although there are exponentially more multiple faults than single faults, previous works have shown that given an initial set of test patterns for single faults, relatively few additional tests are required in order to cover all multiple faults. The exact situations in which test patterns generated by ATPG for single stuck-at (SSA) faults do not detect multiple stuck-at (MSA) faults will be examined. This will be done by presenting proofs which show the conditions that need to be met such that ATPG for single faults can cover all multiple faults. An analysis is then performed to determine the exact conditions that, when removed from the circuit, violate the assumption that ATPG for single faults will detect all multiple faults. Finally, our proposed ATPG algorithm will be explained. | |
| キーワード | （和） | テストパターン自動生成 / 多重故障 / 単一故障 / 組み合わせ論理回路 / ATPG / / / |
| （英） | Automatic Test Pattern Generation / Double Fault / Single Fault / Combinational Logic / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 94, VLD2016-9, pp. 13-18, 2016年6月. | |
| 資料番号 | VLD2016-9 | |
| 発行日 | 2016-06-09 (CAS, VLD, SIP, MSS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CAS2016-3 VLD2016-9 SIP2016-37 MSS2016-3 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD CAS MSS SIP |
| 開催期間 | 2016-06-16 - 2016-06-17 |
| 開催地（和） | 弘前市立観光館 |
| 開催地（英） | Hirosaki Shiritsu Kanko-kan |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | System, signal processing and related topics |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2016-06-VLD-CAS-MSS-SIP |
| 本文の言語 | 英語（日本語タイトルあり） |
| タイトル（和） | 単一故障用テストパターンでは不十分な場合を考慮した多重縮退故障用テストパターン自動生成手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Automatic Test Pattern Generation for Multiple Stuck-At Faults: When Testing for Single Faults is Insufficient |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テストパターン自動生成 / Automatic Test Pattern Generation |
| キーワード(2)（和/英） | 多重故障 / Double Fault |
| キーワード(3)（和/英） | 単一故障 / Single Fault |
| キーワード(4)（和/英） | 組み合わせ論理回路 / Combinational Logic |
| キーワード(5)（和/英） | ATPG / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | ムーア コンラッド ジンヨン / Conrad JinYong Moore / ムーア コンラッド ジンヨン |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | ガラバギ アミル マスード / Amir Masoud Gharehbaghi / ガラバギ アミル マスード |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤田 昌宏 / Masahiro Fujita / フジタ マサヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-06-16 10:10:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | CAS2016-3, VLD2016-9, SIP2016-37, MSS2016-3 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.93(CAS), no.94(VLD), no.95(SIP), no.96(MSS) |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-06-09 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
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