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講演抄録/キーワード
講演名 2016-01-29 13:20
スイッチング電源回路におけるデューティ比異常の検出方法
菅原貴彦米澤 遊中尾 宏中島善康富士通研EE2015-24
抄録 (和) 本報告では,デジタル制御のスイッチング電源回路において,過電流検出回路をソフトウェアで多重化することにより,電源の信頼性を向上させる技術を提案する.入力電圧,目標電圧,出力電流から正常なデューティ比の範囲を逐次計算し,デューティ比が正常範囲を逸脱した場合に電流検出回路の異常と判断し,安全のため電源を強制停止させる.本報告では,シミュレーション及び実験による検証結果を述べる. 
(英) In this report, we suggest the technique to improve the reliability of the power supply with multiplexing an overcurrent detection circuit by software in a digitally controlled switching mode power supply circuit. We calculate a normal duty ratio range theoretically during operation, using a input voltage, a target voltage, and an output current. If an real duty ratio exceeds this normal range, switching operation is forcibly stopped for safe as the failure of the current detection circuit. In this report, we discuss the inspection results studied using simulation and experiment.
キーワード (和) スイッチング電源 / デジタル制御 / 電流検出回路 / デューティ比 / 異常検出 / / /  
(英) Switching Mode Power Supply / Digitally Control / Current Detection Circuit / Duty Ratio / Failure Detection / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 429, EE2015-24, pp. 91-96, 2016年1月.
資料番号 EE2015-24 
発行日 2016-01-21 (EE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EE2015-24

研究会情報
研究会 EE  
開催期間 2016-01-28 - 2016-01-29 
開催地(和) 久留米ホテル エスプリ 
開催地(英) KURUME HOTEL ESPRIT 
テーマ(和) 回路技術及び高効率エネルギー変換技術関連,一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EE 
会議コード 2016-01-EE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) スイッチング電源回路におけるデューティ比異常の検出方法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Anomaly Detection Technique of Duty Ratio in Switching Mode Power Supply Circuit 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) スイッチング電源 / Switching Mode Power Supply  
キーワード(2)(和/英) デジタル制御 / Digitally Control  
キーワード(3)(和/英) 電流検出回路 / Current Detection Circuit  
キーワード(4)(和/英) デューティ比 / Duty Ratio  
キーワード(5)(和/英) 異常検出 / Failure Detection  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 菅原 貴彦 / Takahiko Sugawara / スガワラ タカヒコ
第1著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
FUJITSU LABORATORIES LTD. (略称: FUJITSU LAB. LTD.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 米澤 遊 / Yu Yonezawa / ヨネザワ ユウ
第2著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
FUJITSU LABORATORIES LTD. (略称: FUJITSU LAB. LTD.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 中尾 宏 / Hiroshi Nakao / ナカオ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
FUJITSU LABORATORIES LTD. (略称: FUJITSU LAB. LTD.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 中島 善康 / Yoshiyasu Nakashima / ナカシマ ヨシヤス
第4著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
FUJITSU LABORATORIES LTD. (略称: FUJITSU LAB. LTD.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2016-01-29 13:20:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 EE 
資料番号 EE2015-24 
巻番号(vol) vol.115 
号番号(no) no.429 
ページ範囲 pp.91-96 
ページ数
発行日 2016-01-21 (EE) 


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