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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-01-21 13:25 断熱型磁束量子パラメトロン4万ゲート回路の歩留まり評価 ○奈良間達也・竹内尚輝（横浜国大）・Thomas Ortlepp（CiS）・山梨祐希・吉川信行（横浜国大）  SCE2015-42 エレソ技報アーカイブへのリンク：SCE2015-42 |
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| 抄録 | （和） | 我々は超伝導集積回路の中でも特に低消費電力性に優れた断熱型磁束量子パラメトロン (AQFP) 回路を研究しており、これまでAIST-STP2にて作製された1万ゲートAQFP回路の実証や歩留まり評価を進めてきた。当研究では今後の更なる大規模化に向け、新たにAIST-HSTPを用いて4万ゲートAQFP回路の実証及び歩留まり評価を行った。この回路は約4万のAQFPゲート、約8万のジョセフソン接合により構成されている。この回路を励起電流の極性を変更しながら測定し、更に再度冷却を行い同様の測定を行うことで信頼性の高い歩留まり評価を行った。更に同チップの全ての測定において、回路動作や励起電流マージンなどの高い再現性が得られた。 |
| （英） | We are studying adiabatic quantum flux parametron (AQFP) circuit, which is very energy-efficient superconductor logic. Recently, we evaluated circuit yields of 10k-gate AQFP circuit using AIST STP2. In this study, we evaluated circuit yields using a large-scale AQFP circuit composed of as many as 40,000 AQFP gates with approximately 80,000 Josephson junctions, which was fabricated using AIST HSTP. We measured 6 chips using bipolar excitation currents, which were necessary to precisely evaluate circuit yields. We iterated the measurement with temperature cycling between room temperature and 4.2 K in the liquid helium, and we confirmed 37% of AND block yield. Furthermore, we confirmed high reproducibility of the measurement. | |
| キーワード | （和） | 超伝導集積回路 / 断熱型磁束量子パラメトロン / 磁束トラップ / 回路歩留まり / / / / |
| （英） | Superconductive Integrated Circuit / Adiabatic Quantum-Flux-Parametron / Flux Trapping / Circuit Yield / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 412, SCE2015-42, pp. 35-40, 2016年1月. | |
| 資料番号 | SCE2015-42 | |
| 発行日 | 2016-01-14 (SCE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SCE2015-42 エレソ技報アーカイブへのリンク：SCE2015-42 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
| 開催期間 | 2016-01-21 - 2016-01-21 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 薄膜、SQUID及びその応用、一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SCE |
| 会議コード | 2016-01-SCE |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 断熱型磁束量子パラメトロン4万ゲート回路の歩留まり評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Yield evaluation of 40k gate-scale adiabatic-quantum-flux-parametron circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 超伝導集積回路 / Superconductive Integrated Circuit |
| キーワード(2)（和/英） | 断熱型磁束量子パラメトロン / Adiabatic Quantum-Flux-Parametron |
| キーワード(3)（和/英） | 磁束トラップ / Flux Trapping |
| キーワード(4)（和/英） | 回路歩留まり / Circuit Yield |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 奈良間 達也 / Tatsuya Narama / ナラマ タツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 竹内 尚輝 / Naoki Takeuchi / タケウチ ナオキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | Thomas Ortlepp / Thomas Ortlepp / トーマス オートレップ |
| 第3著者 所属（和/英） | CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH (略称： CiS) CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH (略称： CiS) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山梨 祐希 / Yuki Yamanashi / ヤマナシ ユウキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉川 信行 / Nobuyuki Yoshikawa / ヨシカワ ノブユキ |
| 第5著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-01-21 13:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SCE |
| 資料番号 | SCE2015-42 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.412 |
| ページ範囲 | pp.35-40 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-01-14 (SCE) |
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