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講演抄録／キーワード
講演名 2015-12-17 16:00
［ポスター講演］40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化
○大島　梓（京都工繊大）・Pieter Weckx・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大）   エレソ技報アーカイブはこちら
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文献情報 信学技報
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研究会情報
研究会 ICD CPSY  
開催期間 2015-12-17 - 2015-12-18 
開催地（和） 京都工芸繊維大学 
開催地（英） Kyoto Institute of Technology 
テーマ（和） 学生・若手研究会 
テーマ（英）  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2015-12-ICD-CPSY 
本文の言語 日本語 
タイトル（和） 40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化 
サブタイトル（和）  
タイトル（英） RTN Modeling of Ring Oscillators by a Bimodal Defect-Centric Behavior in a 40 nm process 
サブタイトル（英）  
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第1著者 氏名（和/英/ヨミ） 大島 梓 / Azusa Oshima / オオシマ アズサ
第1著者 所属（和/英） 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称： KIT)
第2著者 氏名（和/英/ヨミ） Pieter Weckx / Pieter Weckx /
第2著者 所属（和/英） IMEC (略称： IMEC)
IMEC (略称： IMEC)
第3著者 氏名（和/英/ヨミ） Ben Kaczer / Ben Kaczer /
第3著者 所属（和/英） IMEC (略称： IMEC)
IMEC (略称： IMEC)
第4著者 氏名（和/英/ヨミ） 松本 高士 / Takashi Matsumoto / マツモト タカシ
第4著者 所属（和/英） 東京大学 (略称： 東大)
University of Tokyo (略称： UT)
第5著者 氏名（和/英/ヨミ） 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ
第5著者 所属（和/英） 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称： KIT)
第6著者 氏名（和/英/ヨミ） 小野寺 秀俊 / Hidetoshi Onodera /
第6著者 所属（和/英） 京都大学 (略称： 京大)
Kyoto University (略称： KU)
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講演者 第1著者 
発表日時 2015-12-17 16:00:00 
発表時間 100分 
申込先研究会 ICD 
資料番号  
巻番号（vol） vol.115 
号番号（no） no.373(ICD), no.374(CPSY) 
ページ範囲  
ページ数  
発行日  

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